Вышедшие номера
Упругие деформации и делокализованные оптические фононы в сверхрешетках AlN/GaN
Панькин Д.В.1,2, Смирнов М.Б.1, Давыдов В.Ю.3, Смирнов А.Н.3, Заварин Е.Е.3, Лундин В.В.3
1Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный университет, Ресурсный центр "Оптические и лазерные методы исследования вещества", Санкт-Петербург, Россия
3Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: dmitrii.pankin@spbu.ru
Поступила в редакцию: 8 февраля 2016 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2016 г.

C использованием модели диэлектрического континуума установлена корреляция между частотами делокализованных фононов симметрии A(TO) и E(LO) в рамановских спектрах короткопериодных AlN/GaN сверхрешеток и отношением толщин слоев структуры. Показано, что упругие деформации, возникающие в материалах слоев при росте сверхрешеток, слабо влияют на вид корреляционной зависимости между частотами мод A(TO) и E(LO), имеющих высокую интенсивность в рамановских спектрах, и структурным параметром, определяющим отношения толщин слоев. Результаты расчетов фононных частот хорошо согласуются с имеющимися экспериментальными данными и могут быть использованы для спектроскопической диагностики AlN/GaN сверхрешеток.