XIX симпозиум Нанофизика и наноэлектроника", Нижний Новгород, 10-14 марта 2015 г. Селективное детектирование УФ-излучения на основе низкоразмерных гетероструктур ZnCdS/ZnMgS/GaP и ZnCdS/ZnS/GaP
Аверин С.В.1, Кузнецов П.И.1, Житов В.А.1, Захаров Л.Ю.1, Котов В.М.1, Алкеев Н.В.1, Гладышева Н.Б.2
1Фрязинский филиал Института радиотехники и электроники им. В.А. Котельникова РАН, Фрязино, Россия
2Федеральное государственное унитарное предприятие "Пульсар", Москва, Россия
Поступила в редакцию: 22 апреля 2015 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2015 г.
Исследованы детектирующие свойства периодических гетероструктур с квантовыми ямами ZnCdS, разделенными барьерными слоями ZnMgS или ZnS. Гетероструктуры выращены на полуизолирующих подложках GaP методом MOVPE. На их основе изготовлены МПМ-диоды с шириной встречно-штыревых контактов с барьером Шоттки и расстоянием между ними 3 мкм при общей площади детектора 100x100 мкм. Детекторы обладают низкими темновыми токами (10-12 А) и при низких напряжениях смещения обеспечивают узкополосный отклик (FWHM = 18 нм на длине волны 350 нм), определяемый составом квантовой ямы ZnCdS. При увеличении смещения до 70 В наблюдается сдвиг максимальной чувствительности детектора на длину волны 450 нм, обусловленный проникновением электрического поля внешнего смещения в полуизолирующую GaP подложку, при этом узкополосный отклик детектора на длине волны 350 нм сохраняется, т. е. обеспечивается двухцветное детектирование светового излучения.
- O. Ambaсher. Phys. D: Appl. Phys., 31, 2653 (1998) (и ссылки в этой статье)
- Т.В. Бланк, Ю.А. Гольдберг. ФТП, 37, 1025 (2003) (и ссылки в этой статье)
- E. Monroy, E. Munoz, F.J. Sanchez, F. Calle, E. Calleja, B. Beaumont, P. Gibart, J.A. Munoz, F. Cusso. Semicond. Sci. Technol., 13 (9), 1042 (1998)
- G. Parish, S. Keller, P. Kozodoy, J.A. Ibbetson et al. Appl. Phys. Lett., 75 (2), 247 (1999)
- X.H. Xie, Z.Z. Zhang, C.X. Shan, H.Y. Chen, D.Z. Shen. Appl. Phys. Lett., 101, 081104 (2012)
- E. Monroy, F. Vigue, F. Calle, J.I. Izpura, E. Munoz, J.-P. Faurie. Appl. Phys. Lett., 77, 2761 (2000)
- S. Averin, P. Kuznetzov, V. Zhitov, L. Zakharov, N. Alkeev, N. Gladisheva. Phys. Status Solidi C, 10 (3), 298 (2013)
- S.V. Averin, P.I. Kuznetzov, V.A. Zhitov, N.V. Alkeev. Sol. St. Electron., 52, 618 (2008)
- I.K. Sou, M.C.W. Wu, T. Sun, K.C. Wong, G.K.L. Wong. J. Electron. Mater., 30 (6), 673 (2001)
- F. Vigue, E. Tournie, J.-P. Faurie. Electron. Lett., 36 (4), 352 (2000)
- S.J. Chang, Y.K. Su, W.R. Chen, J.F. Chen, W.H. Lan, W.J. Lin, Y.T. Cherng, C.H. Lin, V.H. Liaw. IEEE Phot. Techn. Lett., 14 (2), 188 (2002)
- W.-R. Chen, T.-H. Meen, Yi-Ch. Cheng, W.-J. Lin. IEEE Electron. Dev. Lett., 27 (5), 347 (2006)
- R.A. Metzger. Compound semiconductors, May/June, 29 (1996)
- E. Monroy, F. Omnes, F. Calle. Semicond. Sci. Technol., 18, R33 (2003)
- Kyu-Tae Lee, Sugyong Seo, Jae Yong Lee, L. Jay Guo. Appl. Phys. Lett., 104, 231112 (2014)
- R.W. Sabnis. Displays, 20, 119 (1999)
- Zipeng Zhang. Appl. Phys. Lett., 99, 083502 (2011)
- С. Pernot, A. Hirano, M. Iwaya, T. Detchprohm, H. Amano, I. Akasaki. Jpn. J. Appl. Phys., 38, Pt. 2 (5A), L487 (1999)
- S.K. Zhang, W.B. Wang, F. Yun, L. He, H. Morkoc, X. Zhon, M. Tamargo, R.R. Alfano. Appl. Phys. Lett., 81, 4628 (2002)
- Z. Yan, S. Jinglan, W. Nili, H. Li, L. Xiangyang, Li Xiangyang, M. Xiangjian. J. Semiconductors, 31 (12), 124015 (2010)
- Y.N. Hou, Z.X. Mei, Z.L. Liu, T.C. Zhang, X.L. Du.. Appl. Phys. Lett., 98, 103506 (2011)
- S. Averin, R. Sachot, J. Hugi, M. de Fays, M. Ilegems. J. Appl. Phys., 80 (3), 1553 (1996)
- S. Averin, O. Bondarenko, R. Sachot. Sol. St. Electron., 46, 2045 (2002)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.