Вышедшие номера
Сканирующие туннельные микроскопия и спектроскопия аморфного углерода О б з о р
Иванов-Омский В.И.1, Лодыгин А.Б.1, Ястребов С.Г.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 11 мая 2000 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2000 г.

Важнейшими методами исследования поверхности аморфного алмазоподобного углерода являются сканирующие туннельные микроскопия и спектроскопия. В настоящем обзоре рассмотрены работы, посвященные исследованию с помощью туннельного микроскопа топографии и электронных свойств поверхности пленок аморфного алмазоподобного углерода, а также сопутствующие исследования, такие как зондовые исследования полевой эмиссии из аморфного углерода и туннельная микроскопия металл-углеродных нанокомпозитов.