Физика и техника полупроводников
Авторам
Вышедшие номера
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Методика исследований субмикровыделений в поликристаллических материалах методом внутреннего трения
1Воронежский государственный технический университет, Воронеж, Россия 
2Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 18 ноября 1996 г.
Выставление онлайн: 19 июня 1997 г.
На основе метода внутреннего трения предложены методики исследования кинетики выделения примесей на поверхности зерен в поликристаллических образцах. Возможности методики апробированы на поликристаллических газочувствительных слоях диоксида олова, легированных теллуром.
- Поликристаллические полупровдники, под ред. Г. Харбеке (М., Мир, 1989). [Пер. с англ.: Polycrystalline Semiconduction. Phisical Prorerties and Application. Proc. Int. School of Materials Sci. and Technol. at the Eltore Majorana Centre. Erice, Italy, July 1--15. 1984, ed. by G. Harbeke (Springer Verlag, Berlin--Heidelberg--N.Y.--Tokyo,1985)]
- H.J. Grost, F. Spaepen. J. Physique, 43, 73 (1982)
- V. Vitek, A.P. Sutton, D.A. Smith, R.C. Pond. Grain Boundary. Structure and Kinetics (A.S.M., Metal Park, 1980)
- R.W. Balutti, P.D. Bristowe, C.P. Sun. J. Amer. Soc., 64, 29 (1981)
- V. Pontikis. J. Physique, 43, 65 (1982)
- C.L. Briant, R.D. Mesmer. J. Physique, 43, 255 (1982)
- R.S. Morrison. Sensor and Actuators, 12, 425 (1987)
- L. Horer. Polprgzewodnikowe materialy ceramiczhe z aktywnymi granicami zranicami ziaru (Warszawa, PWN, 1990)
- Л. Фельдман, Д. Майер. Основы анализа поверхности и тонких пленок (М., Мир, 1989). [Пер. с англ.: L.C. Feldman, J.W. Mayer. Fundamentals of surface and thin film analysis (North Holland, N.Y.--Amsterdam--London, 1986)]
- M.V. Bestaev, D.Tr. Dimitrov, V.A. Moshnikov, Yu.M. Tairov. SnO2 Based Gas Sensitive Sensor. Abstracts E-MRS 1996 Spring Meeting. Strasburg, France, June 4--7, 1996, B-1
- R. Assenov, V.A. Moshnikov, D.A. Yaskov. Cryst. Res. Technol., 21, 1553 (1986)
- Н.И. Долотов, А.Б. Зильберман, Ю.А. Ильин, А.В. Мохин, В.А. Мошников, Д.А. Яськов. Неорг. матер., 30, N 1, 83 (1994)
- В.И. Митрохин, Н.П. Ярославцев, С.И. Рембеза, Г.С. Песоцкий, Н.В. Измайлов. А.с. 105/42 СССР G01N11/16 (1985)
- Н.В. Измайлов, Ю.Л. Ильин, В.А. Мошников, В.В. Томаев, Н.П. Ярославцев, Д.А. Яськов. ЖФХ, 12, 1370 (1988)
- Б.М. Даринский, Н.П. Ярославцев. Высокочистые вещества, N 3, 80 (1990)
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
