Методом магнитоплазменной отсечки СВЧ волн миллиметрового диапазона при температурах 1.7 и 4.2 K измерена диэлектрическая проницаемость chi бесщелевых полупроводников p-Hg_1-xCd_xTe (x~= 0.15). Для образца с (N_A-N_D)=1.6·10¹⁷ см^-3 при T=1.7 K экспериментальное значение chi=13 и уменьшается с ростом температуры. Заниженное значение chi по сравнению с диэлектрической проницаемостью решетки chi_L=16 связывается с отрицательным вкладом делокализованных дырок, которые активированы на край подвижности, расположенный вблизи уровня Ферми. Для образца с (N_A-N_D)=7.2·10¹⁶ см^-3 при гелиевых температурах дырки локализованы, а завышенное значение chi=32 объясняется поляризацией микронеоднородностей, образующихся в полупроводнике из-за неоднородного распределения заряженных примесей.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.