Вышедшие номера
Глубокие уровни дефектов, возникающих в структурах Si-PtaSib в результате воздействия импульсной фотонной обработки
Глебов С.С., Егоров В.В., Капустин Ю.А., Колокольников Б.М., Свешников А.А.
Выставление онлайн: 20 августа 1990 г.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.