ФТП, 2009, том 43, выпуск 10

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Влияние облучения на свойства нанокристаллических пленок карбида кремния

А.В.Семенов, А.В.Лопин, В.М.Пузиков, В.Н.Борискин\kern1pt*

Институт монокристаллов Национальной академии наук Украины,
61001 Харьков, Украина
* Национальный научный центр \glqq Физико-технический институт\grqq Национальной академии наук Украины,
61108 Харьков, Украина

(Получена 16 марта 2009 г. Принята к печати 25 марта 2009 г.)

Изучено влияние облучения электронами на оптические и электрофизические свойства нанокристаллических пленок карбида кремния ромбоэдрических политипов 21R-SiC и 27R-SiC. Проведены циклы облучения нанокристаллических пленок SiC на подложках из сапфира электронами с энергией 10 МэВ в диапазоне флюэнсов 5·1014-9·1019 см-2. Установлено, что при дозах облучения менее 1019 см-2 оптическое поглощение пленок в области энергий фотонов E>Eg становится меньше оптического поглощения необлученных пленок. Установлено, что зависимость энергии Урбаха от дозы облучения имеет минимум при дозе 1017 см-2 для пленок 27R-SiC и при 5·1017 см-2 для пленок 21R-SiC, что свидетельствует о радиационном упорядочении пленок. При увеличении дозы более 5·1017 см-2 и вплоть до 9·1019 см-2 в пленках наблюдаются рост энергии Урбаха и уменьшение оптической щели, что обусловлено повышением концентрации радиационных дефектов.

PACS: 81.40.Wx, 61.82.Rx, 78.40.Fy, 78.66.Li, 78.67.Bf

 PDF версия (285Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2009, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster