| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Электрические свойства монокристаллов InSe и фоточувствительность барьеров Шоттки Al/InSe
И.В.Боднарь, Г.А.Ильчук, Р.Ю.Петрусь, В.Ю.Рудь, Ю.В.Рудь, М.Сергинов
Белорусский государственный университет информатики и радиоэлектроники,
220013 Минск, Беларусь
Национальный университет \glqq Львивська Политехника\grqq,
79013 Львов, Украина
Санкт-Петербургский государственный политехнический университет,
195251 Санкт-Петербург, Россия
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
Туркменский государственный университет,
744000 Ашхабад, Туркмения
(Получена 25 декабря 2008 г. Принята к печати 9 февраля 2009 г.)
|
Методом Бриджмена выращены монокристаллы InSe диаметром 14 и длиной мм. Определен состав полученных монокристаллов и их кристаллическая структура. На выращенных монокристаллах проведены измерения удельной электропроводности () и постоянной Холла () и созданы первые барьеры Шоттки Al/-InSe. В новых структурах обнаружены выпрямление и фотовольтаический эффект. На основании исследований спектров фоточувствительности структур Al/-InSe определены характер межзонных переходов и значения ширины запрещенной зоны кристаллов InSe. Сделан вывод о возможностях применения новых структур при создании широкополосных фотопреобразователей оптических излучений. PACS: 61.10.-i, 61.82.Fk |
| PDF версия (175Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2009, Коллектив авторов Разработано... webmaster |