| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Фотоэлектрические свойства структур In/InSe
Г.А.Ильчук , В.В.Кусьнэж , Р.Ю.Петрусь , В.Ю.Рудь , Ю.В.Рудь, В.О.Украинец
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
Национальный университет \glqq Львивська политехника\grqq,
79013 Львов, Украина
Санкт-Петербургский государственный политехнический университет,
195251 Санкт-Петербург, Россия
(Получена 27 апреля 2006 г. Принята к печати 10 мая 2006 г.)
|
Методом направленной кристаллизации расплава, близкого по составу к стехиометрическому, а также парофазным методом выращены кристаллы InSe гексагональной модификации, и впервые созданы барьеры Шоттки In/-InSe, фоточувствительные в широкой области энергий падающих фотонов эВ при 300 K. Изучен характер межзонного фотоактивного поглощения, оценены высота энергетического барьера и энергии межзонных оптических переходов. Сделан вывод о возможностях применения выращенных кристаллов в широкополосных фотопреобразователях оптического излучения. PACS: 71.20.Nr, 73.40.Ns, 73.50.Pz |
| PDF версия (155Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2007, Коллектив авторов Разработано... webmaster |