| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Особенности нейтронного легирования фосфором кристаллов кремния, обогащенных изотопом Si: исследования методом электронного парамагнитного резонанса
П.Г.Баранов, Б.Я.Бер, О.Н.Годисов, И.В.Ильин, А.Н.Ионов, А.К.Калитеевский,
М.А.Калитеевский, И.М.Лазебник, А.Ю.Сафронов, Х.-Дж.Пол, Х.Риманн,
Н.В.Абросимов, П.С.Копьев, А.Д.Буланов, А.В.Гусев
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
НТЦ-Центротех,
198096 Санкт-Петербург, Россия
Институт ядерной физики им. Б.П. Константинова Российской академии наук,
188300 Гатчина, Россия
VITCON Projectconsult Gmbh,
D-07745 Jena, Germany
Leibniz Institute of Crystal Growth,
D-12489 Berlin, Germany
Институт химии высокочистых веществ Российской академии наук,
603905 Нижний Новгород, Россия
(Получена 16 ноября 2005 г. Принята к печати 1 декабря 2005 г.)
|
Исследовано нейтронное трансмутационное легирование кристаллов кремния, обогащенных изотопом Si, методом электронного парамагнитного резонанса: наблюдались доноры фосфора и возникающие в процессе нейтронного легирования радиационные дефекты. Исследованы сигналы ЭПР неконтролируемой примеси фосфора в Si до нейтронного легирования (концентрация ) и фосфора, введенного легированием с дозами и (концентрации и соответственно). Благодаря резкому сужению линий ЭПР фосфора в Si интенсивность сигналов существенно увеличилась, что позволило контролировать фосфор в образцах с малым объемом (до ). Разработаны методы контроля концентрации доноров P по сверхтонкой структуре в спектрах ЭПР изолированных атомов P, обменно-связанных пар, троек, четверок и более крупных кластеров доноров P. В области высоких концентраций P, когда сверхтонкая структура исчезает, концентрация доноров P оценивалась по ширине обменно-суженной линии ЭПР. PACS: 81.40.Wx, 61.80.Hg, 61.82.Fk, 76.30.Da |
| PDF версия (459Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2006, Коллектив авторов Разработано... webmaster |