ФТП, 2006, том 40, выпуск 4

 Другие выпуски  Другие журналы  Поиск  
 
   Атомная структура и неэлектронные свойства полупроводников
 
Александров О.В., Криворучко А.А., Соболев Н.А.
Моделирование диффузии алюминия в кремнии в инертной и окислительной средах
385
 
Яремко А.М., Валах М.Я., Джаган В.Н., Литвин П.М., Юхимчук В.А.
Взаимосвязь минимумов поверхностной энергии самоиндуцированных наноостровков SiGe и их формы
391
 
   Электронные и оптические свойства полупроводников
 
Байдуллаева А., Власенко З.К., Даулетмуратов Б.К., Кузан Л.Ф., Мозоль П.Е.
Особенности спектров нелинейного поглощения света в нестехиометрических и легированных Ni монокристаллах GaSe
397
 
Поклонский Н.А., Вырко С.А., Забродский А.Г.
Дипольная модель сужения энергетической щели между зонами Хаббарда в слабо компенсированных полупроводниках
400
 
Гусейнов А.Г., Салманов В.М., Мамедов Р.М.
Фотопроводимость и люминесценция в монокристалле CuInSe2 при высоком уровне возбуждения
406
 
Мигаль В.П., Фомин А.С.
Временная и пространственная устойчивость фотоэлектрического отклика кристаллов CdZnTe
408
 
   Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность
 
Домашевская Э.П., Середин П.В., Лукин А.Н., Битюцкая Л.А., Гречкина М.В., Арсентьев И.Н., Винокуров Д.А., Тарасов И.С.
Инфракрасные спектры отражения и морфология поверхности эпитаксиальных гетероструктур AlxGa1-xAs/GaAs (100) с фазой упорядочения AlGaAs2
411
 
Файзрахманов И.А., Базаров В.В., Степанов А.Л., Хайбуллин И.Б.
Влияние имплантации ионов меди на оптические свойства и низкотемпературную проводимость углеродных пленок
419
 
Тысченко И.Е., Журавлев К.С., Талочкин А.Б., Попов В.П.
Особенности фотолюминесценции в структурах кремний-на-изоляторе, имплантированных ионами водорода
426
 
   Низкоразмерные системы
 
Кревчик В.Д., Марко А.А., Грунин А.Б.
Энергетический спектр и магнитооптические свойства D(-)-центра в квантовом сужении
433
 
Кадушкин В.И.
Спиновое расщепление и g-фактор электронов возбужденной подзоны размерного квантования
439
 
Гергель В.А., Курбатов В.А., Якупов М.Н.
Квазигидродинамическое моделирование особенностей
электропроводности сильно легированных
наноразмерных слоистых гетероструктур
в сильных электрических полях
446
 
Каганович Э.Б., Лисовский И.П., Манойлов Э.Г., Злобин С.А.
Фотолюминесценция пленок нанокристаллического кремния, полученных импульсным лазерным осаждением
с введением углерода
449
 
Шашкин В.И., Данильцев В.М., Дроздов М.Н., Дроздов Ю.Н., Гапонова Д.М., Хрыкин О.И., Мурель А.В., Востоков Н.В., Kim Taek, Park Yong-Jo
Оптимизация температурного режима металлорганической газофазной эпитаксии квантовых точек InAs(N) на GaAs(001) с интенсивной фотолюминесценцией вблизи 1.3 мкм
455
 
Борисов Б.А., Никишин С.Н., Курятков В.В., Кучинский В.И., Holtz M., Temkin H.
Повышенная излучательная рекомбинация квантовых ям AlGaN, выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии
460
 
Кайбышев В.Х., Травников В.В.
Влияние интерфейсных ступенек роста на анизотропию экситонного излучения квантовых ям ZnCdSe/ZnSe
464
 
   Аморфные, стеклообразные и пористые полупроводники
 
Кулова Т.Л., Скундин А.М., Плесков Ю.В., Коньков О.И., Теруков Е.И., Трапезникова И.Н.
Интеркаляция лития в тонкие пленки аморфного кремния   
473
 
Форш П.А., Мартышов М.Н., Тимошенко В.Ю., Кашкаров П.К.
Динамическая электропроводность
анизотропно наноструктурированного кремния
476
 
   Физика полупроводниковых приборов
 
Блохин С.А., Крыжановская Н.В., Гладышев А.Г., Малеев Н.А., Кузьменков А.Г., Аракчеева Е.М., Танклевская Е.М., Жуков А.Е., Васильев А.П., Семенова Е.С., Максимов М.В., Леденцов Н.Н., Устинов В.М., Шток Э., Бимберг Д.
Оптические исследования микродисков на основе субмонослойных квантовых точек InGaAs с асимметричным волноводом, сформированным методом селективного окисления   
482
 
Костко И.А., Гунько Н.А., Баженов Н.Л., Мынбаев К.Д., Зегря Г.Г.
Влияние внутризонной электронной релаксации на пороговые характеристики лазеров на квантовых ямах
488
 
Морозов Ю.А., Нефедов И.С., Алешкин В.Я., Морозов М.Ю.
Параметрическая оптимизация брэгговских отражателей лазера с вертикальным резонатором и нелинейным
преобразованием частоты
493
 
Векслер М.И., Тягинов С.Э., Шулекин А.Ф.
Транзистор с туннельным МОП эмиттером как инструмент для определения эффективной массы дырки
в тонкой пленке диоксида кремния
498


Copyright (C) 2006, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster