ФТП, 2006, том 40, выпуск 1: page 41...

ФТП, 2006, том 40, выпуск 1

Содержание	Предыдущая статья	Следующая статья	Поиск

Влияние инверсии зон на фононные спектры твердых растворов Hg_1-xZn_xTe

Л.К.Водопьянов, И.В.Кучеренко , А.Марчелли ^*, Е.Бураттини ^*,
М.Пиччинини ^*, М.Честелли Гауди ^*, Р.Трибуле ⁺

Физический институт им. П.Н. Лебедева Российской академии наук,
119991 Москва, Россия
^* Национальная лаборатория Фраскати ИНФН,
00044 Фраскати, Италия
⁺ Лаборатория физики твердого тела, ЦНРС,
Медон, Франция

(Получена 26 апреля 2005 г. Принята к печати 10 мая 2005 г.)

Узкозонные полупроводниковые сплавы II--VI и IV--VI являются удобным объектом для исследования электрон-фононного взаимодействия. Однако в сплавах IV--VI концентрация свободных носителей достаточно высока (

~10

¹⁸ см

^-3), что затрудняет изучение этого эффекта методом оптического отражения. Концентрация свободных носителей в узкозонных твердых растворах Hg

_1-xZn

_xTe значительно меньше (

~10

¹⁶ см

^-3), поэтому плазменная составляющая оказывает меньшее влияние на спектр решеточного отражения. Спектры отражения кристаллов Hg

_1-xZn

_xTe с

x=0.1-1

исследовались в далекой инфракрасной области в диапазоне

30-700

см

^-1 в интервале температур

40-300

K. С помощью дисперсионного анализа и анализа Крамерса--Кронига определены частоты TO-фононов HgTe- и ZnTe-подобных мод в зависимости от состава. Показано, что перестройка фононного спектра имеет двухмодовый характер. В узкозонном сплаве с

x=0.1

измерены температурные зависимости частот TO-фононов и параметра затухания в интервале температур

80-200

K. Впервые оптическими методами обнаружено уменьшение частоты TO-фонона мягкой моды вблизи точки инверсии зон при

T=110

K. Параметр затухания несколько возрастает в окрестности этой температуры. Полученные результаты качественно согласуются с теоретической моделью Кавамуры и др., учитывающей влияние электрон-фононного взаимодействия на частоту мягкой моды в соединениях IV--VI.

PACS: 63.20.-e, 63.20.Dj, 63.20.Mt

PDF версия (308Kb) Другие выпуски Другие журналы Помощь

Copyright (C) 2006, Коллектив авторов Разработано... webmaster