ФТП, 2005, том 39, выпуск 8

 Содержание  Предыдущая статья  Следующая статья  Поиск  

Электронно-микроскопические исследования микроструктуры поликристаллических конденсатов на основе халькогенидов: влияние состава и толщины на внутреннее искривление кристаллической решетки

В.Ю.Колосов , Л.М.Веретенников, Ю.Б.Старцева, К.Л.Швамм

Уральский государственный экономический университет,
629219 Екатеринбург, Россия

(Получена 27 декабря 2004 г. Принята к печати 12 января 2005 г.)

Методами просвечивающей электронной микроскопии изучена микроструктура зерна поликристаллических образований, растущих в тонких аморфных конденсатах Ge-Te, Tl-Se, Cd-Te. Методом изгибных экстинкционных контуров в кристаллитах мелкозернистой структуры обнаружен сильный внутренний изгиб кристаллической решетки (до 200 град/мкм). Изучено влияние толщины и состава исходной пленки на величину внутреннего искривления решетки зерна.

 PDF версия (271Kb)   Другие выпуски  Другие журналы   Помощь 
Copyright (C) 2005, Коллектив авторов  Разработано...  webmaster