| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Рентгенодифракционное исследование структуры нанопористого углерода, полученного из карбидных материалов
Р.Н.Кютт, А.М.Данишевский, Э.А.Сморгонская, С.К.Гордеев
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук,
194021 Санкт-Петербург, Россия
Центральный научно-исследовательский институт материалов,
121014 Санкт-Петербург, Россия
(Получена 23 декабря 2002 г. Принята к печати 27 декабря 2002 г.)
| Методом рентгеновской дифракции изучена структура частиц нанопористого углерода, полученного из карбидов различных материалов (SiC, TiC, MoC и BC) путем химического удаления карбидообразующих элементов. На измеренных дифрактограммах регистрируются рефлексы в области двойного угла отражения и . Анализ углового положения, полуширины и интенсивности этих пиков показал, что первый из них есть рефлекс от базисных плоскостей искаженных графитоподобных кристаллических фрагментов, а второй может быть обусловлен двумерной дифракцией (10) от осколков графеновых плоскостей в остальной массе образца. Присутствие графитоподобных кристаллитов зависит от способа приготовления образца. Их размер колеблется в пределах 40--100 Angstrem, а объемная доля составляет величину от 5 до 12% для разных образцов. |
| PDF версия (141Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2003, Коллектив авторов Разработано... webmaster |