Пьезоспектроскопическое исследование полосы излучения с максимумом около 1.2 эВ в n-GaAs : S
Гуткин А.А.1, Рещиков М.А.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 25 декабря 2003 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2004 г.
Исследовано влияние одноосного давления до 8 кбар вдоль кристаллографических направлений [111] и [001] на спектры и поляризацию широкой полосы фотолюминесценции с максимумом при энергии фотонов 1.2 эВ в n-GaAs : S, связываемой с захватом электронов на комплекс VGaSAs. Зависимости поляризации излучения в полосе от энергии фотонов и температуры свидетельствуют о том, что исходно тригональная симметрия комплекса понижена и может быть моноклинной с плоскостью симметрии 011. При этом дисторсии комплекса не переориентируются, а ось его излучающего оптического диполя примерно одинаково отклонена от направлений <111> и <001>, лежащих в плоскости симметрии. Выделение расщепившихся при одноосном давлении компонент полосы фотолюминесценции, основанное на использовании закономерностей пьезоспектроскопического поведения излучения анизотропных центров, подтверждает предлагаемую модель комплекса и показывает, что вклад ротатора в его излучение мал. Результаты сопоставляются с данными для аналогичного комплекса VGaTeAs и свидетельствуют о существенном изменении свойств комплексов вакансия-мелкий донор при замене одного донора VI группы другим.
- E.W. Williams, H.B. Bebb. Semiconductors and Semimetals, ed. by R.K. Willardson, A.C. Beer (N. Y.--London, Academic Press, 1972) v. 8, p. 321
- A.A. Gutkin, N.S. Averkiev, M.A. Reshchikov, V.E. Sedov. Proc. 18th Int. Conf. on Defects in Semiconductors (Sendai, Japan, 1995), ed. by M. Suezawa, H. Katayama-Yoshida. [Mater. Sci. Forum, 196--201, pt 1, 231 (1995)]
- A. Gutkin, M. Reshchikov, V. Sedov, V. Sosnovskij. Proc. Estonian Acad. Sci. Phys. Math., 44, 212 (1995)
- С.В. Булярский, Н.С. Грушко, А.В. Жуков. ЖЭТФ, 116, 1027 (1998)
- А.А. Гуткин, М.А. Рещиков, В.Е. Седов. ФТП, 34, 1201 (2000)
- Н.С. Аверкиев, А.А. Гуткин, Е.Б. Осипов, М.А. Рещиков, В.Р. Сосновский. ФТП, 26, 1269 (1992)
- A.A. Kaplyanskii. J. de Phys., 28 Suppl. N 8--9, 4 (1967)
- А.А. Гуткин, М.А. Рещиков. ФТП, 37, 287 (2003)
- А.А. Гуткин, А.В. Ермакова. ФТП, 37, 908 (2003)
- D.J. Chadi, C.H. Park. Proc. 18th Int. Conf. on Defects in Semiconductors (Sendai, Japan, 1995), ed. by M. Suezawa, H. Katayama-Yoshida [Mater. Sci. Forum, 196--201, pt 1, 285 (1995)]
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.