Вышедшие номера
Home » Физика и техника полупроводников » Год 2013, выпуск 7 » Статья стр. 948
<<<>>>
Электронные свойства пограничной области между пленками фторозамещенного и незамещенного фталоцианина меди
Комолов А.С.1, Лазнева Э.Ф.1, Пшеничнюк С.А.2, Гавриков А.А.1, Чепилко Н.С.1, Томилов А.А.1, Герасимова Н.Б.1, Лезов А.А.1, Репин П.С.1
1Санкт-Петербургский государственный университет, физический факультет, Санкт-Петербург, Россия
2Институт физики молекул и кристаллов Уфимского научного центра РАН, Уфа, Россия
Поступила в редакцию: 23 октября 2013 г.
Выставление онлайн: 19 июня 2013 г.
PDF версия
Приведены результаты исследования формирования интерфейса в процессе осаждения пленок незамещенного фталоцианина меди (CuPc) на поверхность пленок 16-фторозамещенного (гексадекафторо-) фталоцианина меди (F16-CuPc). Использовали методику регистрации отражения от поверхности тестирующего пучка медленных электронов (very low energy electron diffraction, VLEED), реализованную в режиме спектроскопии полного тока при изменении энергии падающего электрона от 0 до 25 эВ. Для пленок F16-CuPc установлена структура максимумов в спектрах полного тока, выявлены ее основные отличия от структуры максимумов, известной для пленок CuPc, в энергетическом диапазоне от 5 до 15 эВ выше уровня Ферми. Отличия в структуре вакантных электронных орбиталей для случаев CuPc и F16-CuPc обнаружены также в результате расчета методом теории функционала плотности. В результате анализа изменения интенсивностей спектров полного тока, исходящих от пленок CuPc и F16-CuPc, предположено, что в процессе формирования пограничной области между этими пленками образуется переходный слой толщиной до 1 нм, для которого характерно размытие особенностей в спектре полного тока. Для исследованного интерфейсного барьера F16-CuPc/СuPc установлены высота, протяженность и изменение работы выхода. В пограничной области происходит понижение уровня вакуума на 0.7 эВ, что соответствует переносу электронной плотности от пленки CuPc в сторону подложки F16-CuPc.
  1. L. Grzadziel, M. Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, J. Szuber. Organic Electron., 13 (10), 1873 (2012)
  2. L. Grzadziel, M. Krzywiecki, H. Peisert, T. Chasse, J. Szuber. Thin Sol, Films, 519 (7), 2187 (2011)
  3. A.N. Aleshin, I.P. Shcherbakov, V.N. Petrov, A.N. Titkov. Organic Electron., 12 (8), 1285 (2011)
  4. I.E. Gracheva, V.A. Moshnikov, E.V. Maraeva, S.S. Karpova, O.A. Alexsandrova, N.I. Alekseyev, V.V. Kuznetsov, G. Olchowik, K.N. Semenov, A.V. Startseva, A.V. Sitnikov, J.M. Olchowik. J. Non-Cryst. Sol., 358 (2), 433 (2012)
  5. Н.В. Цветков, Л.Н. Андреева, Е.В. Лебедева, И.А. Стрелина, А.А. Лезов, А.Н. Подсевальникова, Н.Г. Микушева, В.О. Иванова, И.А. Макаров, И.М. Зорин, А.Ю. Билибин. Высокомолекуляр. соединения А, 53 (8), 1349 (2011)
  6. F. Babudri, G.M. Farinola, F. Naso, R. Ragni. Chem. Commun., 10, 1003 (2007)
  7. J. Ren, Sh. Meng, Y.-L. Wang, X.-C. Ma, Q.-K. Xue, E. Kaxiras. J. Chem. Phys., 134, 194 706 (2011)
  8. A.P. Hitchcock, P. Fischer, A. Gedanken, M.B. Robin. J. Phys. Chem., 91, 531 (1987)
  9. K. Demircan, A. Mathew, C. Weiland, A.M. Rawlett, J.M. Tour. J. Chem. Phys., 128, 074 705 (2008)
  10. S. Godlewski, A. Tekiel, J.S. Prauzner-Bechcicki, J. Budzioch, A. Gourdon, M. Szymonski. J. Chem. Phys., 134 (22), 224 701 (2011)
  11. S.A. Komolov, P.J. M ller, J. Mortensen, E.F. Lazneva. Appl. Surf. Sci., 253, 7376 (2007)
  12. A. Opitz, B. Ecker, J. Wagner, A. Hinderhofer, F. Schreiber, J. Manara, J. Pflaum, W. Brutting. Organic Electron., 10, 1259 (2009)
  13. A.S. Komolov, P.J. M ller, E.F. Lazneva. J. Electron. Spectroscopy Relat. Phenomena, 131--132, 67 (2003)
  14. А.С. Комолов, Э.Ф. Лазнева, С.А. Комолов, П.С. Репин, А.А. Гавриков. ФТП, 46 (8), 1012 (2012)
  15. A.S. Komolov, S.A. Komolov, E.F. Lazneva, A.A. Gavrikov, A.M. Turiev. Surf. Sci., 605, 1452 (2011)
  16. I. Bartos. Progr. Surf. Sci., 59, 197 (1998)
  17. С.А. Пшеничнюк, А.В. Кухто, И.Н. Кухто, А.С. Комолов. ЖТФ, 81 (6), 8 (2011)
  18. S.A. Pshenichnyuk, A.S. Komolov. J. Phys. Chem. A, 116 (1) 761 (2012)
  19. M.J. Frisch, G.W. Trucks, H.B. Schlegel et al. Gaussian 03.D.01 (Gaussian Inc. Wallingford CT, 2004)
  20. A.D. Becke. J. Chem. Phys., 98, 5648 (1993)
  21. A. Modelli. Phys. Chem. Chem. Phys., 5, 2923 (2003)
  22. С.А. Пшеничнюк, Н.Л. Асфандиаров, П.Д. Барроу. Изв. РАН. Сер. хим., 6, 1222 (2007)
  23. A.S. Komolov, S.N. Akhremtchik, E.F. Lazneva. Spectrochim. Acta A, 798, 708 (2011)
  24. С.А. Комолов, Э.Ф. Лазнева, А.С. Комолов. Письма ЖТФ, 29 (23), 13 (2003)
  25. T. Graber, F. Forster, A. Schoell, F. Reinert. Surf. Sci., 605, 878 (2011)
  26. I.G. Hill, J. Schwartz, A. Kahn. Organic Electron., 1, 5 (2000)
  27. L. Cao, Y. Wang, J. Zhong, Y. Han, W. Zhang, X. Yu, F. Xu, D.-C. Qi, A.T.S. Wee. J. Phys. Chem. C, 115 (50), 24 880 (2011)
  28. A.S. Komolov, P.J. M ller, Y.G. Aliaev, S.N. Akhremtchik, K. Schaumburg. J. Molecul. Struct., 744--747, 145 (2005)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme