Вышедшие номера
Влияние морфологии поверхности микрополосковой линии СВЧ на ее передаточные характеристики
Переводная версия: 10.1134/S1063782620110251
Торхов Н.А.1,2,3, Коколов А.А.2, Бабак Л.И.2
1Научно-исследовательский институт полупроводниковых приборов, Томск, Россия
2Томский государственный университет систем управления и радиоэлектроники, Томск, Россия
3Национальный исследовательский Томский государственный университет, Томск, Россия
Email: trkf@mail.ru
Поступила в редакцию: 26 апреля 2020 г.
В окончательной редакции: 18 мая 2020 г.
Принята к печати: 28 мая 2020 г.
Выставление онлайн: 7 августа 2020 г.

Определены основные морфологические параметры 50-омных Au/i-GaAs100 тонкопленочных микрополосковых золотых СВЧ копланарных линий передач длиной lW, влияющие на активное сопротивление их скин-слоя R и индуктивность L. Получено, что латеральный характер распределения зерен и развитый рельеф их поверхностей приводит к возникновению дополнительных процессов рассеяния электронов как на границах зерен, так и на неоднородностях рельефа. Малый размер зерен, dx<133 нм, на частотах f>10 ГГц переводит аномальный скин-эффект в нормальный. При этом нелинейная зависимость R от lW в локальном приближении обеспечивается фрактальной геометрией рельефа поверхности и приповерхностной области копланарных линий передач, а нелинейная зависимость индуктивности L от lW - не только фрактальными особенностями рельефа двухмерной поверхности копланарных линий передач, но и фрактальными особенностями трехмерного распределения ее зерен. Ключевые слова: СВЧ линии, скин-эффект, морфология поверхности, фракталы, размерность Хаусдорфа-Безиковича, S-параметры рассеяния, компактная модель, экстракция параметров.
  1. В.А. Тиньков. Успехи физ. мет., 7, 117 (2006)
  2. А.В. Соколов. Оптические свойства металлов (М., Физматлит, 1961)
  3. M.I. Kaganov, P. Contreras. Zh. Eksp. Teor. Fiz., 106, 1814 (1994)
  4. А.В. Латышев, А.А. Юшканов. Журн. вычислительной математики и мат. физики, 44 (10), 1861 (2004)
  5. A.F. Mayadas, M. Shatzkes, J.F. Janak. Appl. Phys. Lett., 14 (11), 345 (1969)
  6. M.S.P. Lucas. J. Appl. Phys., 36 (5), 1632 (1965)
  7. M.A. Angadi, L.A. Udachan. Thin Sol. Films, 79 (2), 149 (1981)
  8. N.A. Torkhov. Semiconductors, 53 (1), 28 (2019)
  9. D. K. Larson. In: Physics of Thin Films, ed. by M.H. Francombe and R.W. Hoffman (N. Y., Academic, 1971) v. 6
  10. И.В. Антонец, Л.H. Котов, C.B. Некипелов, Е.А. Голубев. ЖТФ, 3, 24 (2004)
  11. А.Н. Колмогоров, С.В. Фомин. Элементы теории функций и функционального анализа. 4-е изд., перераб. (М., Наука, 1976)
  12. И.А. Иванишко, В.Г. Кротов. Мат. заметки, 86 (6), 829 (2009)
  13. N.A. Torkhov, L.I. Babak, A.A. Kokolov. Symmetry, 11, 1495 (2019). doi:10.3390/sym11121495
  14. N. Torkhov, L. Babak, A. Kokolov, F. Sheyerman. ITM Web of Conf., 30, 07016 (2019), CriMiCo'2019. doi.org/10.1051/itmconf /20193007016
  15. Е. Федер. Фракталы (М., Мир, 1991)

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.