"Физика и техника полупроводников"
Издателям
Вышедшие номера
Об оценках температуры плавления графеноподобных соединений
Давыдов С.Ю.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия Санкт-Петербургский национальный исследовательский университет информационных технологий, механики и оптики, Санкт-Петербург, Россия
Поступила в редакцию: 6 апреля 2015 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2015 г.

Обсуждаются три подхода к определению температуры плавления, понимаемой как температура термической неустойчивости двумерной гексагональной структуры: 1) приближение Найи, Изири и Ишии; 2) критерий Линдеманна; 3) критерий Борна. Для количественных оценок используется метод связывающих орбиталей Харрисона. Рассмотрены графен, силицен, германен и 12 соединений A4B4 и A3B5. Показано, что критерии Линдеманна и Борна приводят к близким и более реальным результатам, чем приближение Найи, Изири и Ишии. Для грубой оценки объемной" и поверхностной" температур плавления предлагаются соответственно следующие выражения: Tb~104 K/a2 и Ts~2Tb/3, где расстояние между ближайшими соседями a задается в Angstrem.
  • С.М. Стишов. УФН, 114 (1), 3 (1974)
  • K.J. Strandburg. Rev. Mod. Phys., 60 (1), 162 (1988) (Erratum: Rev. Mod. Phys., 61 (3), 747 (1988))
  • J.G. Dash. Rev. Mod. Phys., 71 (5), 1737 (1999)
  • Q.S. Mei, K. Lu. Prog. Mater. Sci., 52 (8), 1175 (2007)
  • T. Matsubara. J. Phys. Soc. Jpn., 40 (2), 603 (1976)
  • T. Matsubara, K. Kamiya. Prog. Theor. Phys., 58 (3), 767 (1977)
  • T. Hama, T. Matsubara. Prog. Theor. Phys., 59 (5), 1407 (1978)
  • S. Naya, M. Iziri, T. Ishii. Prog. Theor. Phys., 60 (5), 1604 (1978)
  • Y. Aikawa, K. Fujii. Materials Transections, 50 (2), 249 (2009)
  • А.В. Елецкий, И.М. Искандарова, А.А. Книжник, Д.Н. Красиков. УФН, 181 (3), 233 (2011)
  • А.Е. Галашев, О.Р. Рахманова. УФН, 184 (10), 1045 (2014)
  • X. Li, X. Wang, L. Zhang, S. Lee, H. Dai. Science, 319, 1229 (2008)
  • J. Hu, X. Ruan, Y.P. Chen. Nano Lett., 9 (7), 2730 (2009)
  • K.V. Zakharchenko, A. Fasolino, J.H. Los, M.I. Katsnelson. J. Phys.: Condens. Matter, 23, 202 202 (2011)
  • А.В. Елецкий. УФН, 177 (3), 233 (2007)
  • У. Харрисон. Электронная структура и свойства твердых тел (М.,Мир, 1983) т. 1, с. 383
  • W.A. Harrison. Phys. Rev. B, 27 (6), 3592 (1983)
  • С.Ю. Давыдов, О.В. Посредник. ФТТ, 57 (4), 819 (2015)
  • В.В. Бражкин. УФН, 179 (4), 393 (2009)
  • Y. Hu, B. Wang. AIP Advancies, 3, 052 101 (2013)
  • T. Suzuki, Y. Yokomizo. arXiv: 1004.3638
  • G. Mukhopadhyay, H. Behera. arXiv: 1210.3308
  • Л.А. Фальковский. ЖЭТФ, 132 (8), 446 (2007)
  • Л.А. Фальковский. ЖЭТФ, 142 (3), 560 (2012)
  • R.F. Wallis, A.A. Maradudin, L. Dobrzyanski. Phys. Rev. B, 15 (12), 5681 (1977)
  • J. Dietel, H. Kleinert. Phys. Rev. B, 79, 075 412 (2009)
  • L. Pietronero, E. Tosatti. Sol. St. Commun., 32 (3), 255 (1979)
  • С.П. Никаноров, Б.К. Кардашов. Упругость и дислокационная неупругость кристаллов (М., Наука, (1985)
  • Y.P. Varshni. Phys. Rev. B, 2 (10), 3952 (1970)
  • A.I. Savvatimskiy. Carbon 43 (6), 1115 (2005)
  • S.G. Kim, D. Tomanek. Phys. Rev. Lett. 72 (15), 2418 (1994)
  • K. Zhang, G.M. Stocks, J. Zhong. Nanotechnology, 18, 285 703 (2007)
  • F. Colonna, J.H. Los, A. Fasolino, E.J. Meijer. Phys. Rev. B, 80, 134 103 (2009)
  • G.-D. Lee, C.Z. Wang, E. Yoon, N.-M. Hwang, K.M. Ho. Phys. Rev. B, 81, 195 419 (2010)
  • S.K. Singh, M. Neek-Amal, F.M. Peeters. arXiv: 1304.6010
  • Л.Д. Ландау, Е.М. Лифшиц. Статистическая физика (М., Наука, 1976)
  • N.D. Mermin. Phys. Rev., 176, 250 (1968)
  • Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

    Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.