| Содержание | Предыдущая статья | Следующая статья | Поиск |
|---|
Спектры электроотражения гетероструктур с квантовыми ямами
типа InGaN/AlGaN/GaN
Л.П.Авакянц, М.Л.Бадгутдинов, П.Ю.Боков, А.В.Червяков, С.С.Широков, А.Э.Юнович,
А.А.Богданов, Е.Д.Васильева, Д.А.Николаев, А.В.Феопентов
Московский государственный университет им. М.В. Ломоносова (физический факультет),
119992 Москва, Россия
ЗАО \glqq Светлана-Оптоэлектроника\grqq,
194156 Санкт-Петербург, Россия
(Получена 7 декабря 2006 г. Принята к печати 25 декабря 2006 г.)
|
Методом спектроскопии электроотражения исследованы -гетероструктуры InGaN/AlGaN/GaN с множественными квантовыми ямами InGaN/AlGaN. Структуры были выращены методом металлорганической эпитаксии и смонтированы -областью к теплоотводу. Свет падал и отражался от структур через сапфировую подложку. Для модуляции коэффициента отражения к -переходу прикладывалось напряжение в виде прямоугольных импульсов с постоянным смещением в обратном направлении. В спектрах электроотражения обнаружена линия, соответствующая межзонным переходам в области множественных квантовых ям InGaN/GaN, максимум которой смещен в коротковолновую область по отношению к максимуму полосы инжекционной люминесценции светодиодных структур. Для описания спектра электроотражения использовалась низкополевая модель Аспнеса. Из подгонки параметров модели определена эффективная ширина запрещенной зоны в активной области структуры эВ. Наблюдаемая зависимость от приложенного напряжения объясняется влиянием пьезоэлектрических полей в квантовых ямах InGaN. В спектрах электроотражения обнаружена интерференция в широкой спектральной области от 1.4 до 3.2 эВ, обусловленная зависимостью эффективного показателя преломления от электрического поля. PACS: 78.40.Fy, 78.60.Fi, 78.67.De |
| PDF версия (439Kb) | Другие выпуски | Другие журналы | Помощь |
|---|
| Copyright (C) 2007, Коллектив авторов Разработано... webmaster |