| Другие выпуски | Другие журналы | Поиск |
|---|
| Атомная структура и неэлектронные свойства полупроводников | |
| Клевков Ю.В., Мартовицкий В.П., Медведев С.А. Особенности дефектной структуры текстурированных слитков нелегированного CdTe, выращенных свободным ростом из газодинамического потока паров | 129 |
|---|---|
| Винценц С.В., Зайцева А.В., Плотников Г.С. Самоорганизация лазерноиндуцированных точечных дефектов на начальных стадиях неупругих фотодеформаций германия | 134 |
| Курова И.А., Ормонт Н.Н., Громадин А.Л. Фотоиндуцированный отжиг метастабильных дефектов в легированных бором пленках -Si : H | 142 |
| Электронные и оптические свойства полупроводников | |
| Лашкарев Г.В., Дмитриев А.И., Байда А.А., Ковалюк З.Д., Кондрин М.В., Пронин А.А. Аномалии статической и динамической проводимости моноселенида индия | 145 |
| Брудный В.Н., Пешев В.В. -пик в спектрах DLTS -GaAs, облученного быстрыми нейтронами и протонами (65 МэВ) | 151 |
| Ваксман Ю.Ф., Ницук Ю.А., Пуртов Ю.Н., Шапкин П.В. Инверсия типа проводимости в монокристаллах ZnSe, полученных методом свободного роста | 156 |
| Глинчук К.Д., Прохорович А.В. Особенности определения концентраций мелких примесей в полупроводниках из анализа спектров краевой люминесценции | 159 |
| Горский П.В. Классификация частот осцилляций Шубникова--де-Гааза в слоистых зарядово-упорядоченных кристаллах при наличии магнитного пробоя | 166 |
| Аверкиев Н.С., Монахов А.М., Саблина Н.И., Koenraad P.M. Об обработке экспериментальных данных по осцилляции магнитосопротивления в двумерном электронном газе | 169 |
| Нифтиев Н.Н., Алиджанов М.А., Тагиев О.Б., Мурадов М.Б. Электрические свойства монокристаллов FeInSe | 173 |
| Горлей П.Н., Грушка О.Г. Примесная зона в кристаллах HgInTe, легированных кремнием | 176 |
| Полупроводниковые структуры, границы раздела и поверхность | |
| Драпак С.И., Манассон В.А., Нетяга В.В., Ковалюк З.Д. Электрические свойства изотипной гетероструктуры -BiTe---GaSe | 180 |
| Вайполин А.А., Николаев Ю.А., Рудь В.Ю., Рудь Ю.В., Теруков Е.И., Fernelius N. Создание и свойства фоточувствительных структур на монокристаллах ZnInS | 187 |
| Слободчиков С.В., Салихов Х.М., Саморуков Б.Е. Токоперенос в диодных структурах Fe---InP | 192 |
| Драпак С.И., Орлецкий В.Б., Ковалюк З.Д., Нетяга В.В. Формирование барьера в гетероструктуре собственный окисел---InSe. Электрические и фотоэлектрические свойства | 196 |
| Низкоразмерные системы | |
| Дроздов Ю.Н., Байдусь Н.В., Звонков Б.Н., Дроздов М.Н., Хрыкин О.И., Шашкин В.И. Сегрегация индия при выращивании квантовых ям InGaAs / GaAs в условиях газофазной эпитаксии | 203 |
| Раданцев В.Ф., Иванкив И.М., Яфясов А.М. Эффект Рашбы в инверсионных и обогащенных слоях InAs | 209 |
| Бурбаев Т.М., Курбатов В.А., Погосов А.О., Рзаев М.М., Сибельдин Н.Н. Фотолюминесценция квантовых ям и квантовых точек германия в кремнии, полученных при низких температурах молекулярно-пучковой эпитаксии | 216 |
| Макаров А.Г., Леденцов Н.Н., Цацульников А.Ф., Цырлин Г.Э., Егоров В.А., Устинов В.М., Захаров Н.Д., Werner P. Исследование оптических свойств структур со сверхплотными массивами квантовых точек Ge в матрице Si | 219 |
| Алешкин В.Я., Андронов А.А., Дубинов А.А. Инверсия заселенности -подзон в квантовых ямах в условиях междолинного -переноса | 224 |
| Аморфные, стеклообразные и пористые полупроводники | |
| Файзрахманов И.А., Базаров В.В., Курбатова Н.В., Хайбуллин И.Б., Степанов А.Л. Синтез новых углерод-азотных нанокластеров при термическом отжиге в атмосфере азота алмазоподобных пленок углерода | 230 |
| Казанский А.Г., Мелл Х., Форш П.А. Влияние термического отжига на оптические и фотоэлектрические свойства пленок микрокристаллического гидрированного кремния | 235 |
| Физика полупроводниковых приборов | |
| Косяченко Л.А., Раренко И.М., Захарчук З.И., Склярчук В.М., Склярчук Е.Ф., Солончук И.В., Кабанова И.С., Маслянчук Е.Л. Электрические свойства поверхностно-барьерных диодов на основе CdZnTe | 238 |
| Скрынников Г.В., Зегря Г.Г., Пихтин Н.А., Слипченко С.О., Шамахов В.В., Тарасов И.С. О внутреннем квантовом выходе стимулированного излучения InGaAsP/InP-гетеролазеров ( мкм) | 243 |