Письма в журнал технической физики
Электронная почта:
tpl@journals.ioffe.ru
English translations
Журналы
Журнал технической физики
Письма в Журнал технической физики
Физика твердого тела
Физика и техника полупроводников
Оптика и спектроскопия
Поиск
Войти
Письма в журнал технической физики
Описание журнала
Редакционная коллегия
Статистика
Переводная версия
Авторам
Правила оформления публикаций
Вышедшие номера
2024
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
2023
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2022
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2021
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2020
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2019
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2018
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2017
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2016
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2015
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2014
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2013
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2012
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2011
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2010
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2009
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2008
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2007
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2006
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2005
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2004
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2003
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2002
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2001
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2000
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1999
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1998
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1997
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1996
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1995
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1994
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1993
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1992
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1991
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1990
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1989
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1988
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
Home
»
Письма в журнал технической физики
»
Год 1996, выпуск 2
<<<
>>>
Письма в журнал технической физики, 1996, том 22, выпуск 2
Покропивный А.В., Покропивный В.В., Скороход В.В.
Компьютерное моделирование сканирования поверхности (100)-ОЦК-Fe с вакансиями в атомно-силовом микроскопе
1
Липсон А.Г., Саков Д.М., Саунин Е.И.
Изменение величины нейтронного потока при его взаимодействии с кристаллами K(H
x
D
1- x
)
2
PO
4
в окрестности T
C
8
Васильев В.И., Дерягин А.Г., Кучинский В.И., Лунев А.В., Смирнов В.М.
Низкопороговые лазерные двойные гетероструктуры GaSb/GaInAsSb/ AlGaInAsSb, полученные методом жидкофазной эпитаксии из сурьмянистых растворов-расплавов
15
Крупенин В.А., Паволоцкий А.Б., Прохорова И.Г., Снигирев О.В.
Технология изготовления и характеристики диэлектрических слоев тонкопленочных RC фильтров для джозефсоновских и одноэлектронных устройств
19
Гладышев М.К., Горелов В.А., Киреев А.Ю., Чебуреев В.Г.
Результаты исследований неравновесного ультрафиолетового излучения за сильной ударной волной в воздухе
28
Кладько В.П., Пляцко С.В.
Трансформация в системе точечных дефектов арсенида галлия, вызванная воздействием лазерного инфракрасного излучения
32
Глебов А.П., Пахаруков Ю.В., Саидов А.А., Ясколко Е.В.
Наблюдение формирования микрогетерофазного состояния на границе раздела двух слаборастворимых жидкостей в результате механического перемешивания
37
Гайдуков М.М., Козырев А.Б., Осадчий В.Н.
Микрополосковые СВЧ переключатель каналов и фазовращатель на основе пленок высокотемпературных сверхпроводников
42
Парчинский П.Б., Власов С.И., Насиров А.А., Адилов Т.П.
Исследование заряда диэлектрика и границы раздела кремний --- свинцовосиликатное стекло
46
Вейнгер А.И., Забродский А.Г., Тиснек Т.В., Щавелев К.О., Щавелев О.С.
Обнаружение антиферромагнитной фазы в стеклах, легированных окислами переходных металлов, по ее магнитозависимому микроволновому поглощению
50
Афанасьева Е.Ю., Соловьев С.М.
Рост тонких пленок кремния на поверхности тантала и ниобия
56
Канарейкин А.Д., Шейнман И.Л.
Поверхностные волны на релятивистском плазменном потоке
61
Берман Л.С., Габараева А.Д., Каманин А.В., Каримов И., Клячкин Л.Е., Шаронова Л.В., Шмидт Н.М.
Временной дрейф параметров границы раздела фосфид индия --- двуокись кремния
65
Битюрин В.А., Потебня В.Г., Цескис А.Л.
Об эволюции токонесущего плазменного сгустка в среде со случайным полем скоростей
70
Дуванов С.М., Погребняк А.Д., Лаврентьев В.И., Стайко В.В., Ротштейн В.П., Проскуровский Д.И.
Исследование профилей имплантированных ионов Ti в монокристаллах Cu при высоких дозах облучения и импульсном отжиге
75
Белоус О.И., Фисун А.И.
E-поляризованные колебания в открытом резонаторе с эшелеттным зеркалом
81
Бекренев А.Н., Кирсанов А.Л., Кривченко А.Л.
Особенности распределения вольфрама после высокоскоростной бомбардировки вольфрамовыми частицами
87
Псахье С.Г., Шилько Е.В., Дмитриев А.И., Коростелев С.Ю., Смолин А.Ю.
О вихревом характере упругой деформации материала вблизи поверхности
90
Учредители
Российская академия наук
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
Издатель
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
© 2024
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук