Письма в журнал технической физики
Электронная почта:
tpl@journals.ioffe.ru
English translations
Журналы
Журнал технической физики
Письма в Журнал технической физики
Физика твердого тела
Физика и техника полупроводников
Оптика и спектроскопия
Поиск
Войти
Письма в журнал технической физики
Описание журнала
Редакционная коллегия
Статистика
Переводная версия
Авторам
Правила оформления публикаций
Вышедшие номера
2024
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
2023
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2022
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2021
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2020
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2019
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2018
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2017
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2016
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2015
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2014
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2013
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2012
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2011
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2010
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2009
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2008
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2007
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2006
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2005
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2004
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2003
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2002
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2001
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2000
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1999
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1998
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1997
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1996
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1995
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1994
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1993
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1992
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1991
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1990
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1989
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1988
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
Home
»
Письма в журнал технической физики
»
Год 1999, выпуск 24
<<<
Письма в журнал технической физики, 1999, том 25, выпуск 24
Юнусов М.С., Каримов М., Халиков П.А.
О механизмах термостабильности электрофизических свойств перекомпенсированного n-Si< B,S>
1
Рябухо В.П., Чаусский А.А., Гриневич А.Е.
Зондирование случайного фазового объекта сфокусированным пространственно-модулированным лазерным пучком. Метод интегрального сканирования
5
Хомченко А.В., Глазунов Е.В., Примак И.У., Редько В.П., Сотский А.Б.
Интегрально-оптический полупроводниковый датчик на основе призменного устройства связи
11
Санников Д.Г., Семенцов Д.И., Шутый А.М., Казакевич А.В.
Лучевая модель волноводных режимов в многослойном градиентном волноводе
18
Клименко И.А., Мигаль В.П.
Влияние акустической обработки на фотопроводимость кристаллов селенида цинка
24
Мелких А.В., Селезнев В.Д.
Гистерезис и метастабильность перехода от испарительного режима к капельному при течении жидкости через капилляр
30
Саидов А.С., Кошчанов Э.А., Раззаков А.Ш., Исмаилов Ш.К.
Выращивание кристаллически совершенных Si--Si
1-x
Ge
x
--(Ge
2
)
1-x
(InP)
x
структур из жидкой фазы
37
Плотников В.А.
Инверсия асимметрии акустической эмиссии при мартенситных превращениях в сплавах на основе никелида титана
41
Капуткина Л.М., Сумин В.В., Базалеева К.О.
Влияние азота на склонность к образованию дефектов упаковки и температурную зависимость термоэлектродвижущей силы в сплавах Fe--Cr
50
Бухаров В.Э., Роках А.Г.
Влияние диффузии дефектов на радиационную стойкость гетерогенного фотопроводника CdS--PbS
55
Козлов Г.И.
Сверхтвердость чугуна, индуцированная медью при лазерном воздействии
61
Иванов-Омский В.И., Лодыгин А.Б., Ястребов С.Г.
Сканирующая туннельная спектроскопия аморфного углерода: модель туннелирования
66
Слободчиков С.В., Салихов Х.М.
Диодные структуры n(p)-InP--n-In
2
O
3
--P
2
O
5
--Pd как потенциальные сенсоры ближнего ИК излучения, влажности и водорода
72
Лавриненко А.В., Ганчеренок И.И.
Угловая зависимость сигнала в нелинейной поляризационной спектроскопии в условиях неколлинеарного возбуждения частично-поляризованным излучением
79
Васин А.В., Матвеева Л.А., Куцай А.М.
Анализ края фундаментального поглощения в пленках аморфного гидрогенизированного углерода
83
Владимиров А.П., Микушин В.И., Лисин А.Л.
Оптический метод определения компонент вектора относительных перемещений
88
Учредители
Российская академия наук
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
Издатель
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
© 2024
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme