Письма в журнал технической физики
Электронная почта:
tpl@journals.ioffe.ru
English translations
Журналы
Журнал технической физики
Письма в Журнал технической физики
Физика твердого тела
Физика и техника полупроводников
Оптика и спектроскопия
Поиск
Войти
Письма в журнал технической физики
Описание журнала
Редакционная коллегия
Статистика
Переводная версия
Авторам
Правила оформления публикаций
Вышедшие номера
2024
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
2023
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2022
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2021
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2020
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2019
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2018
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2017
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2016
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2015
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2014
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2013
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2012
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2011
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2010
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2009
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2008
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2007
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2006
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2005
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2004
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2003
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2002
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2001
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
2000
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1999
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1998
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1997
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1996
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1995
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1994
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1993
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1992
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1991
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1990
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1989
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
1988
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
22
23
24
Home
»
Письма в журнал технической физики
»
Год 2019, выпуск 12
<<<
>>>
Письма в журнал технической физики, 2019, том 45, выпуск 12
Тутов Е.А., Голощапов Д.Л., Зломанов В.П.
Фазовый переход полупроводник-металл и "тристабильное" электрическое переключение в нанокристаллических пленках оксида ванадия на кремнии
3
Малашенко В.В.
Подавление скачков пластической деформации магнитным полем при низкотемпературном деформировании двухкомпонентных сплавов
6
Рехвиашвили С.Ш., Бухурова М.М.
Устойчивость углеродной нанолуковицы в контакте с графитовой подложкой
9
Гордеев М.Ю., Рождественский Ю.В.
Фазовый переключатель для электромагнитно индуцированных решеток в среде с -атомами
12
Полулях С.Н., Горбованов А.И.
Применение искусственной нейронной сети в экспериментах по ядерному спиновому эху
16
Телегин А.В., Сухоруков Ю.П., Бессонов В.Д., Наумов С.В.
Эффект Фарадея в феррит-шпинели CoFe
2
O
4
в ИК-диапазоне
19
Волков Р.С., Чванов С.В., Андриянов Д.Д.
Диагностика наличия твердых частиц в каплях водяного аэрозоля по их интерференционной картине
22
Бачурин В.И., Мелесов Н.С., Паршин Е.О., Рудый А.С., Чурилов А.Б.
Исследование многослойных тонкопленочных структур методом резерфордовского обратного рассеяния
26
Ганжерли Н.М., Гуляев С.Н., Маурер И.А., Хазвалиева Д.Р.
Высокочастотные рельефно-фазовые голографические решетки на обработанном коротковолновым УФ-излучением бихромированном желатине
30
Давыдов С.Г., Долгов А.Н., Корнеев А.В., Якубов Р.Х.
Вольт-амперные характеристики начальной стадии дугового разряда в высоковольтном вакуумном диоде
33
Бакулин А.В., Кулькова С.Е.
Адгезия на границе раздела Ta(Mo)/NiTi
37
Авдижиян А.Ю., Лавров С.Д., Кудрявцев А.В., Шестакова А.П., Васина М.В.
Фоточувствительность оптических сенсоров на основе дихалькогенидов переходных металлов: влияние толщины на их спектральные характеристики
42
Пронин И.А., Аверин И.А., Якушова Н.Д., Карманов А.А., Мошников В.А., Теруков Е.И.
Направленная самосборка микро- и нанопроводов оксида цинка
45
Баринов Ю.А.
Новый способ обработки изображений, полученных шлирен-методом с фоновым экраном
49
Бойправ О.В., Айад Х.А.Э., Лыньков Л.М.
Радиоэкранирующие свойства никельсодержащего активированного угля
52
Учредители
Российская академия наук
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
Издатель
Физико-технический институт им. А.Ф.Иоффе Российской академии наук
© 2024
Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук