Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2023, выпуск 14 » Статья стр. 22
<<<>>>
Оже-электронная спектроскопия поверхности MAX-пленок (Cr0.5Mn0.5)2GaC, окисленной в результате хранения на воздухе
DOI: 10.21883/PJTF.2023.14.55821.19430
Переводная версия: 10.61011/TPL.2023.07.56448.19430
Российский научный фонд, Синтез нанослойных МАХ-материалов на основе хрома и марганца для применения в устройствах спинтроники, 21-12-00226
Андрющенко Т.А. 1, Лященко С.А. 1, Лукьяненко А.В. 1, Варнаков С.Н. 1, Овчинников С.Г. 1,2
1Институт физики им. Л.В. Киренского Сибирского отделения Российской академии наук, Красноярск, Россия
2Сибирский федеральный университет, Красноярск, Россия
Email: ata12@iph.krasn.ru
Поступила в редакцию: 16 ноября 2022 г.
В окончательной редакции: 14 апреля 2023 г.
Принята к печати: 18 мая 2023 г.
Выставление онлайн: 28 июня 2023 г.
PDF версия
Методом оже-электронной спектроскопии в совокупности с ионным травлением проведен анализ химического связывания атмосферного кислорода с хромом и марганцем на поверхности эпитаксиальной MAX-фазы (Cr0.5Mn0.5)2GaC. Обнаружено, что для данной системы характерно анизотропное окисление, при котором атомы кислорода связываются с атомами хрома и марганца активнее на краях кристаллитов слоистой MAX-фазы в отличие от базальной плоскости (0001). При этом на последней наблюдается доминирование химической связи Mn-O над связью Cr-O. Ключевые слова: MAX-фазы, оже-электронная спектроскопия, эпитаксиальные пленки, ионное травление.
  1. A. Mockute, J. Lu, E.J. Moon, M. Yan, B. Anasori, S.J. May, M.W. Barsoum, J. Rosen, Mater. Res. Lett., 3 (1), 16 (2015). DOI: 10.1080/21663831.2014.944676
  2. Iu.P. Novoselova, A. Petruhins, U. Wiedwald, D. Weller, J. Rosen, M. Farle, R. Salikhov, Mater. Res. Lett., 7 (4), 159 (2019). DOI: 10.1080/21663831.2019.1570980
  3. Z. Chen, Z. Chang, Z. Liu, N. Zhou, Appl. Surf. Sci., 602, 154375 (2022). DOI: 10.1016/j.apsusc.2022.154375
  4. A. Petruhins, A.S. Ingason, J. Lu, F. Magnus, S. Olafsson, J. Rosen, J. Mater. Sci., 50 (13), 4495 (2015). DOI: 10.1007/s10853-015-8999-8
  5. J. Marien, T. Wagner, G. Duscher, A. Koch, M. Ruhle, Surface Sci., 446 (3), 219 (2000). DOI: 10.1016/S0039-6028(99)01172-3
  6. L.E. Davis, N.C. MacDonald, P.W. Palmberg, G.E. Riach, R.E. Weber, Handbook of Auger electron spectroscopy (Physical Electronics, Minnesota, 1976), p. 33, 81, 103
  7. K.D. Childs, B.A. Carlson, L.A. LaVanier, J.F. Moulder, D.F. Paul, W.F. Stickle, D.G. Watson, Handbook of Auger electron spectroscopy (Physical Electronics, Minnesota, 1995), p. 317, 332, 338
  8. G.E. McGuire, Auger electron spectroscopy reference manual (Plenum Press, N.Y., 1979), p. 10, 45, 57
  9. C.N.R. Rao, D.D. Sarma, Phys. Rev. B, 25 (4), 2927 (1982). DOI: 10.1103/PhysRevB.25.2927
  10. M. Petit, M.T. Dau, G. Monier, L. Michez, X. Barre, A. Spiesser, V.L. Thanh, A. Glachant, C. Coudreau, L. Bideux, Ch. Robert-Goumet, Phys. Status Solidi C, 9 (6), 1374 (2012). DOI: 10.1002/pssc.201100448
  11. R. Weib mann, R. Koschatzky, W. Schnellhammer, K. Muller, Appl. Phys., 13 (1), 43 (1977). DOI: 10.1007/BF00890718
  12. T.W. Haas, J.T. Grant, G.J. Dooley III, J. Appl. Phys., 43 (4), 1853 (1972). DOI: 10.1063/1.1661409
  13. M.A. Smith, L.L. Levenson, Phys. Rev. B, 16 (4), 1365 (1977). DOI: 10.1103/PhysRevB.16.1365
  14. S. Danyluk, J.Y. Park, D.E. Busch, Scripta Met., 13 (9), 857 (1979). DOI: 10.1016/0036-9748(79)90174-1
  15. M.P. Seah, Thin Solid Films, 81 (3), 279 (1981). DOI: 10.1016/0040-6090(81)90490-9
  16. Анализ поверхности методами оже- и рентгеновской фотоэлектронной спектроскопии, под ред. Д. Бриггса, М.П. Сиха (Мир, М., 1987), с. 166. [ Practical surface analysis by Auger and X-ray photoelectron spectroscopy, ed by D. Briggs, M.P. Seach (John Wiley and Sons, Ltd, Chichester, 1983), p. 166.]

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme