Чувствительность дифракционной фокусировки рентгеновских лучей к межплоскостному рассогласованию при обратном рассеянии в изогнутом кристалле с эпитаксиальной пленкой
Чен Т.1
1Московская государственная академия тонкой химической технологии им. М.В. Ломоносова
Email: docent65@mtu-net.ru
Поступила в редакцию: 18 июля 2002 г.
Выставление онлайн: 20 января 2003 г.
Теоретически исследуется дифракционная фокусировка рентгеновской волны толстым изогнутым кристаллом с автоэпитаксиальной пленкой, когда брэгговский угол thetaB близок к pi/2. Показано, что фокусировка рентгеновских лучей при их обратном рассеянияя изогнутым кристаллом с пленкой чувствительна к величине межплоскостного рассогласования Delta d/d в пленке относительно толстой подложки. Предложено использовать эту чувствительность фокусировки для определения Delta d/d с точностью ~ 10-10.
- Kohra K., Matsushita T. // Z. Naturforsch. 1972. B. A27. S. 484
- Brummer O., Hoche H.R., Nieber J. // Phys. Stat. Sol. 1979. V. A53. P. 565
- Caticha A., Caticha-Ellis S. // Phys. Rev. 1982. V. B25. P. 971
- Kuschnir V.I., Suvorov E.V. // JETP Lett. 1986. V. 44. P. 262
- Чен Т., Бушуев В.А., Кузьмин Р.Н. // ЖТФ. 1990. Т. 60. С. 60
- Graeff W., Materlik G. // Nucl. Instr. and Meth-s. 1982. V. 195. P. 97
- Shvyd'ko Yu.V., Gerdau E. // Hyperfine Interactions. 1999. V. 123/124. P. 741
- Cusatis C., Udron D., Mazzaro I. et al. // Acta Cryst. 1996. V. A52. P. 614
- Shvyd'ko Yu.V., Gerdau E., Jaschke J. et al. // Phys. Rev. 1998. V. B57. P. 4968
- Ковальчук М.В., Кон В.Г., Лобанович Э.Ф. // ФТТ. 1985. Т. 27. С. 3379
- Бушуев В.А., Чен Т. // Вестник Московского университета. Сер. 3. Физика, астрономия. 1988. Т. 29. С. 58
- Kohn V.G. // Phys. Stat. Sol. 2002. V. B231. P. 132
- Габриелян К.Т., Чуховский Ф.Н., Пискунов Д.И. // ЖЭТФ. 1989. Т. 96. С. 834
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
