Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2024, выпуск 15 » Статья стр. 37
<<<>>>
Влияние тока абсорбции на результаты измерения ионной проводимости твердого электролита LiPON
Рудый А.С.1, Новожилова А.В.2
1Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова, Ярославль, Россия
2Российский университет дружбы народов, Москва, Россия
Email: rudy@uniyar.ac.ru, alena.novozhilova.2014@mail.ru
Поступила в редакцию: 13 декабря 2023 г.
В окончательной редакции: 5 апреля 2024 г.
Принята к печати: 18 апреля 2024 г.
Выставление онлайн: 9 июля 2024 г.
PDF версия
Предложена альтернативная интерпретация импеданс-спектров твердого электролита LiPON. Высказано предположение, что экспериментальное значение проводимости обусловлено током абсорбции и смещения, тогда как дрейфовый ток в основном экранируется двойным электрическим слоем. Рассчитан импеданс альтернативной эквивалентной схемы LiPON, содержащей неидеальный абсорбционный элемент. Показано, что диаграммы Боде альтернативной эквивалентной схемы хорошо аппроксимируют экспериментальные кривые, а значения проводимости согласуются с теоретическими данными и результатами расчетов на основе концентрации и подвижности ионов лития. Ключевые слова: LiPON, импеданс-спектроскопия, двойной электрический слой, абсорбционный элемент, ток смещения.
  1. J.B. Bates, N.J. Dudney, G.R. Gruzalski, R.A. Zuhr, A. Choudhury, C.F. Luck, J.D. Robertson, Solid State Ion., 53-56, 647 (1992). DOI: 10.1016/0167-2738(92)90442-R
  2. J. Bates, N. Dudney, G. Gruzalski, R. Zuhr, A. Choudhury, C. Luck, J. Robertson, J. Power Sources, 43, 103 (1993). DOI: 10.1016/0378-7753(93)80106-Y
  3. J.B. Bates, G.R. Gruzalski, N.J. Dudney, C.F. Luck, X. Yu, Solid State Ion., 70-71, 619 (1994). DOI: 10.1016/0167-2738(94)90383-2
  4. J.B. Bates, N.J. Dudney, D.C. Lubben, G.R. Gruzalski, B.S. Kwak, X. Yu, R.A. Zuhr, J. Power Sources, 54, 58 (1995). DOI: 10.1016/0378-7753(94)02040-A
  5. X. Yu, J.B. Bates, G.E. Jellison, Jr., F.X. Hart, J. Electrochem. Soc., 144, 524 (1997). DOI: 10.1149/1.1837443
  6. X. Yu, J.B. Bates, G.E. Jellison, Jr., in Proc. of the Symp. on thin film solid ionic devices and materials (Electrochemical Society, Inc., 1995), vol. 95-22, p. 23
  7. J.B. Bates, N.J. Dudney, C.F. Luck, B.C. Sales, R.A. Zuhr, J.D. Robertson, J. Am. Ceram. Soc., 76, 929 (1993). DOI: 10.1111/j.1151-2916.1993.tb05317.x
  8. Y. Hamon, A. Douard, F. Sabary, C. Marcel, P. Vinatier, B. Pecquenard, A. Levasseur, Solid State Ion., 177, 257 (2006). DOI: 10.1016/j.ssi.2005.10.021
  9. L. Li, S. Liu, X. Xue, H. Zhou, Ionics, 24, 351 (2018). DOI: 10.1007/s11581-017-2209-4
  10. N. Mascaraque, J.L.G. Fierro, A. Duran, F. Munoz, Solid State Ion., 233, 73 (2013). DOI: 10.1016/j.ssi.2012.12.017
  11. C.S. Nimisha, G.M. Rao, N. Munichandraiah, G. Natarajan, D.C. Cameron, Solid State Ion., 185, 47 (2011). DOI: 10.1016/j.ssi.2011.01.001
  12. L. Le Van-Jodin, F. Ducroquet, F. Sabary, I. Chevalier, Solid State Ion., 253, 151 (2013). DOI: 10.1016/j.ssi.2013.09.031
  13. F. Munoz, A. Duran, L. Pascual, L. Montagne, B. Revel, A.C.M. Rodrigues, Solid State Ion., 179, 574 (2008). DOI: 10.1016/j.ssi.2008.04.004
  14. B. Fleutot, B. Pecquenard, H. Martinez, A. Levasseur, Solid State Ion., 206, 72 (2012). DOI: 10.1016/j.ssi.2011.11.009
  15. Y. Su, J. Falgenhauer, A. Polity, T. Leichtweib, A. Kronenberger, J. Obel, S. Zhou, D. Schlettwein, J. Janek, B.K. Meyer, Solid State Ion., 282, 63 (2015). DOI: 10.1016/j.ssi.2015.09.022
  16. A. Lopez-Grande, G.C. Mather, F. Munoz, J. Mater. Chem. A, 11, 12282 (2023). DOI: 10.1039/D3TA00724C
  17. А.С. Рудый, М.В. Лебедев, А.В. Новожилова, ФТТ, 65 (9), 1527 (2023). DOI: 10.21883/FTT.2023.09.56248.47 [A.S. Rudy, M.V. Lebedev, A.V. Novozhilova, Phys. Solid State, 65, 1465 (2023).]
  18. А.С. Рудый, М.Е. Лебедев, А.А. Мироненко, Л.А. Мазалецкий, В.В. Наумова, А.В. Новожилова, И.С. Федоров, А.Б. Чурилов, Микроэлектроника, 49 (5), 366 (2020). DOI: 10.31857/S0544126920040092 [A.S. Rudyi, M.E. Lebedev, A.A. Mironenko, L.A. Mazaletskii, V.V. Naumov, A.V. Novozhilova, I.S. Fedorov, A.B. Churilov, Russ. Microelectron., 49, 345 (2020). DOI: 10.1134/S1063739720040095]
  19. K.S. Cole, R.H. Cole, J. Chem. Phys., 9, 341 (1941). DOI: 10.1063/1.1750906
  20. A. Rudy, A. Mironenko, V. Naumov, A. Novozhilova, A. Skundin, I. Fedorov, Batteries, 7 (2), 21 (2021). DOI: 10.3390/batteries7020021
  21. С.В. Васильев, М.Е. Лебедев, Л.А. Мазалецкий, А.В. Метлицкая, А.А. Мироненко, В.В. Наумов, А.В. Новожилова, А.С. Рудый, И.С. Федоров, Микроэлектроника, 46 (6), 462 (2017). DOI: 10.7868/S0544126917060084 [S.V. Vasilev, M.E. Lebedev, L.A. Mazaletskii, A.V. Metlitskaya, A.A. Mironenko, V.V. Naumov, A.V. Novozhilova, A.S. Rudyi, I.S. Fedorov, Russ. Microelectron., 46, 424 (2017). DOI: 10.1134/S1063739717060099]

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme