Молекулярно-пучковая эпитаксия нитевидных нанокристаллов InGaN на подложках SiC/Si(111) и Si(111): сравнительный анализ
Гридчин В.О.1,2, Резник Р.Р.2, Котляр К.П.1,2, Драгунова А.С.1,3, Крыжановская Н.В.1,3, Серов А.Ю.2, Кукушкин С.А.4, Цырлин Г.Э.1,2,5
1Санкт-Петербургский национальный исследовательский Академический университет имени Ж.И. Алфёрова Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный университет, Санкт-Петербург, Россия
3Национальный исследовательский университет "Высшая школа экономики", Санкт-Петербург, Россия
4Институт проблем машиноведения РАН, Санкт-Петербург, Россия
5Институт аналитического приборостроения Российской академии наук, Санкт-Петербург, Россия
Email: gridchinvo@gmail.com
Поступила в редакцию: 1 июня 2021 г.
В окончательной редакции: 12 июля 2021 г.
Принята к печати: 19 июля 2021 г.
Выставление онлайн: 27 августа 2021 г.
Впервые показана возможность выращивания нитевидных нанокристаллов InGaN с высоким содержанием In на подложках SiC/Si(111) и проведен анализ в сравнении с аналогичными структурами на подложке Si(111). Показано, что выращивание на подложке SiC/Si приводит к формированию нитевидных нанокристаллов InGaN с содержанием In на ~ 10% меньше и большей эффективностью фотолюминесценции (в ~ 5 раз), чем на Si.
- H.Q.T. Bui, R.T. Velpula, B. Jain, O.H. Aref, H.-D. Nguyen, T.R. Lenka, H.P.T. Nguyen, Micromachines, 10 (8), 492 (2019). DOI: 10.3390/mi10080492
- J. Ramanujam, A. Verma, B. Gonzalez-Di az, R. Guerrero-Lemus, C. del Ca nizo, E. Garci a-Tabares, I. Rey-Stolle, F. Granek, L. Korte, M. Tucci, J. Rath, U.P. Singh, T. Todorov, O. Gunawan, S. Rubio, J.L. Plaza, E. Dieguez, B. Hoffmann, S. Christiansen, G.E. Cirlin, Prog. Mater. Sci., 82, 294 (2016). DOI: 10.1016/j.pmatsci.2016.03.005
- I. Ho, G.B. Stringfellow, Appl. Phys. Lett., 69 (18), 2701 (1996). DOI: 10.1063/1.117683
- E. Roche, Y. Andre, G. Avit, C. Bougerol, D. Castelluci, F. Rveret, E. Gil, F. Medard, J. Leymarie, T. Jean, V.G. Dubrovskii, A. Trassoudaine, Nanotechnology, 29 (46), 465602 (2018). DOI: 10.1088/1361-6528/aaddc1
- В.Г. Дубровский, Г.Э. Цырлин, В.М. Устинов, ФТП, 43 (12), 1585 (2009). [V.G. Dubrovskii, G.E. Cirlin, V.M. Ustinov, Semiconductors, 43 (12), 1539 (2009). DOI: 10.1134/S106378260912001X]
- M.A. Johar, H.-G. Song, A. Waseem, M.A. Hassan, I.V. Bagal, Y.-H. Cho, S.-W. Ryu, Appl. Mater. Today, 19, 100541 (2020). DOI: 10.1016/j.apmt.2019.100541
- В.О. Гридчин, К.П. Котляр, Р.Р. Резник, Л.Н. Дворецкая, А.В. Парфеньева, И.С. Мухин, Г.Э. Цырлин, Письма в ЖТФ, 46 (21), 32 (2020). DOI: 10.21883/PJTF.2020.21.50194.18463 [V.O. Gridchin, K.P. Kotlyar, R.R. Reznik, L.N. Dvoretskaya, A.V. Parfen'eva, I.S. Mukhin, G.E. Cirlin, Tech. Phys. Lett., 46 (11), 1080 (2020). DOI: 10.1134/S1063785020110061]
- Р.Р. Резник, К.П. Котляр, Н.В. Крыжановская, С.В. Морозов, Г.Э. Цырлин, Письма в ЖТФ, 45 (21), 48 (2019). DOI: 10.21883/PJTF.2019.21.48475.17975 [R.R. Reznik, K.P. Kotlyar, N.V. Kryzhanovskaya, S.V. Morozov, G.E. Cirlin, Tech. Phys. Lett., 45 (11), 1111 (2019). DOI: 10.1134/S1063785019110129]
- H. Chen, P. Wang, H. Ye, H. Yin, L. Rao, D. Luo, X. Hou, G. Zhou, R. Notzel, Chem. Eng. J., 406, 126757 (2021)
- T. Tabata, J. Paek, Y. Honda, M. Yamaguchi, H. Amano, Phys. Status Solidi C, 9 (3-4), 646 (2012). DOI: 10.1002/pssc.201100446
- A. Vajpeyi, A. Ajagunna, K. Tsagaraki, M. Androulidaki, A. Georgakilas, Nanotechnology, 20 (32), 325605 (2009). DOI: 10.1088/0957-4484/20/32/325605
- V.O. Gridchin, K.P. Kotlyar, R.R. Reznik, A.S. Dragunova, N.V. Kryzhanovskaya, V.V. Lendyashova, D.A. Kirilenko, I.P. Soshnikov, G.E. Cirlin, Nanotechnology, 32 (33), 335604 (2021). DOI: 10.1088/1361-6528/ac0027
- И.П. Сошников, К.П. Котляр, Р.Р. Резник, В.О. Гридчин, В.В. Лендяшова, А.В. Вершинин, В.В. Лысак, Д.А. Кириленко, Н.А. Берт, Г.Э. Цырлин, ФТП, 55 (9), 785 (2021). DOI: 10.21883/FTP.2021.09.51295.25
- С.А. Кукушкин, А.В. Осипов, ФТТ, 50 (7), 1188 (2008). [S.A. Kukushkin, A.V. Osipov, Phys. Solid State, 50 (7), 1238 (2008). DOI: 10.1134/S1063783408070081]
- G. Orsal, Y. El Gmili, N. Fressengeas, J. Streque, R. Djerboub, T. Moudakir, S. Sundaram, A. Ougazzaden, J.P. Salvestrini, Opt. Mater. Express, 4 (5), 1030 (2014). DOI: 10.1364/OME.4.001030
- D. Zhu, D.J. Wallis, C.J. Humphreys, Rep. Prog. Phys., 76 (10), 106501 (2013). DOI: 10.1088/0034-4885/76/10/106501
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.