Вышедшие номера
Исследование фотоэлектрических характеристик GaAs-фотопреобразователей при различном расположении массива квантовых точек InGaAs в i-области
Салий Р.А. 1, Минтаиров М.А. 1, Минтаиров С.А. 1, Нахимович М.В.1, Шварц М.З. 1, Калюжный Н.А. 1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: r.saliy@mail.ioffe.ru, Mamint@mail.ioffe.ru, Mintairov@scell.ioffe.ru, NMar@mail.ioffe.ru, shvarts@scell.ioffe.ru, Nickk@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 16 июня 2021 г.
В окончательной редакции: 14 июля 2021 г.
Принята к печати: 17 июля 2021 г.
Выставление онлайн: 27 августа 2021 г.

Исследовано влияние расположения массива квантовых точек In0.8Ga0.2As в i-области фотопреобразователя на его фотогенерированный ток, а также темновые токи насыщения, определяющие рабочее напряжение прибора. Установлено, что фотоэлектрические характеристики зависят от расположения квантовых точек относительно электрического поля p-n-перехода. Смещение массива к границе слаболегированной базы приводит к уменьшению фотогенерированного тока в квантовых точках, но при этом эффект падения напряжения, свойственный наногетероструктурным фотопреобразователям, минимален.