Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Электронная микроскопия и элементный состав приповерхностного слоя кристаллов LiF, облученных электронами
Переводная версия: 10.1134/S1063785019020299 
Муссаева М.А.1, Ибрагимова Э.М.1,2
1Институт ядерной физики АН Республики Узбекистан, Улугбек, Ташкент, Узбекистан 
2Центр передовых технологий при Министерстве инновационного развития Республики Узбекистан, Ташкент, Узбекистан
2Центр передовых технологий при Министерстве инновационного развития Республики Узбекистан, Ташкент, Узбекистан
Email: ibragimova@inp.uz
Поступила в редакцию: 12 ноября 2018 г.
Выставление онлайн: 20 января 2019 г.
Методами электронной микроскопии и колебательных спектров исследованы наночастицы Li, сформированные на сколотой поверхности кристаллов LiF при облучении пучком электронов с энергией 4 MeV дозой 5· 1016 cm-2. Предполагается, что при интенсивном облучении в результате ионизации происходит радиолиз и удаление фтора по межблочным границам, где оставшиеся катионы лития нейтрализуются электронами и образуют наночастицы Li, которые собираются и взаимно ориентируются в микронити. Такая функциональная поверхность представляет практический интерес.
- Комаров Ф.Ф. // УФН. 2003. Т. 173. N 12. С. 1287--1318. DOI: 10.3367/UFNr.0173.200312b.1287
- Akashi Y., Yoneda Y. // J. Appl. Phys. 1972. V. 11. N 8. P. 1090--1096
- Милютина У.В., Петровский А.Ф., Ракевич А.Л., Мартынович Е.Ф. // Письма в ЖТФ. 2014. Т. 40. В. 9. С. 64--71
- Тютрин А.А., Глазунов Д.С., Ракевич А.Л., Мартынович Е.Ф. // Письма в ЖТФ. 2018. Т. 44. В. 15. С. 12--19. DOI: 10.21883/PJTF.2019.04.47335.17583
- Schwartz K.H. // RAU Sci. Rep. Comput. Model. New Technol. 1998. V. 2. P. 5--14
- Beuneu F., Vajda P., Zogal O.J. // Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B. 2002. V. 191. N 1-4. P. 149--153. https://doi.org/10.1016/S0168-583X(02)00535-9
- Здоровец М., Акилбеков А., Русакова А., Даулетбекова А., Абуова Ф., Мухышбаева А. // Изв. вузов. Физика. 2009. N 8/2. С. 331--333
- Брюквина Л.И., Мартынович Е.Ф. // ФТТ. 2012. Т. 54. В. 12. С. 2056--2061
- Федоров В.А., Новиков Г.В. // Вестн. Тамбов. ун-та. 2013. Т. 18. N 4. С. 1784--1785
- Федоров В.А., Новиков Г.В., Новгородов Л.А., Васильева С.В., Подкауро А.М. // Вестн. Тамбов. ун-та. 2014. Т. 19. N 2. С. 717--721
- Муссаева М.А., Ибрагимова Э.М., Бузриков Ш.Н. // Оптика и спектроскопия. 2018. Т. 124. В. 5. С. 612--616. DOI: 10.21883/OS.2018.05.45940.293-17-17
- Зефирова В.Л., Колонцова Е.В., Луценко В.П. // Вестн. МГУ. Сер. 3. Физика, астрономия. 1976. Т. 17. N 5. С. 631--633
- Dolling G., Smith H.G., Nicklow R.M., Vijayaraghavan P.R., Wilkinson M.K. // Phys. Rev. 1968. V. 168. P. 970--979. DOI: https://doi.org/10.1103/PhysRev.168.970
- Костюков Н.С., Маслов В.В., Муминов М.И. Радиационная стойкость диэлектриков. Ташкент: Фан, 1981. 213 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
