Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2014, выпуск 24 » Статья стр. 60
<<<>>>
Анализ дефектов упаковки в нитриде галлия с использованием преобразования Фурье высокоразрешающих изображений
Кириленко Д.А.1, Ситникова А.А.1, Кремлёва А.В.1,2, Мынбаева М.Г.1,3,4, Николаев В.И.1,3,4
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Санкт-Петербургский государственный электротехнический университет "ЛЭТИ" им. В.И. Ульянова (Ленина), Санкт-Петербург, Россия
3ООО "Совершенные кристаллы", Санкт-Петербург, Россия
4Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
Email: Demid.Kirilenko@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 7 августа 2014 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 2014 г.
PDF версия
Приведены результаты исследования дефектов упаковки в нитриде галлия по изображениям просвечивающей электронной микроскопии высокого разрешения с помощью преобразования Фурье. Показано, что данный метод позволяет не только определять тип дефекта упаковки, но и измерять непосредственно вектор смещения. Это позволило объяснить особенности контраста на электронно-микроскопических изображениях структур с высокой плотностью дефектов упаковки (более 106 cm-1). Обнаружено, что компонента вектора смещения в плоскости (0001) в таких структурах может заметно отличаться от ожидаемой величины (1)/(3)[0110], свойственной одиночным дефектам.
  1. Wu F., Lin Y.-D., Chakraborty A. et al. // Appl. Phys. Lett. 2010. V. 96. Art. 231 912
  2. Fischer A.M., Wu Z., Sun K., Wei Q., Huang Y., Senda R., Iida D., Iwaya M., Amano H., Ponce F.A. // Appl. Phys. Express. 2009. V. 2. Art. 041 002
  3. Zakharov D.N., Liliental-Weber Z., Wagner B. et al. // Phys. Rev. B. 2005. V. 71. Art. 235 334
  4. Kuang J., Cao W. // Appl. Phys. Lett. 2013. V. 103. Art. 112 906
  5. Hytch M.J., Snoeck E., Kilaas R. // Ultramicroscopy. 1998. V. 74. N 3. P. 136
  6. Nikolaev V., Golovatenko A., Mynbaeva M., Nikitina I., Seredova N., Pechnikov A., Bougrov V., Odnobludov M. // Phys. Stat. Sol. C. 2014. V. 11. N 3--4. P. 502
  7. Drum C.M. // Philos. Mag. 1965. V. 11. N 110. P. 313
  8. Rebane Y.T., Shreter Y.G., Albrecht M. // Phys. Stat. Sol. A. 1997. V. 164. P. 141
  9. Reshchikov M.A., Morkoc H. // J. Appl. Phys. 2005. V. 97. Art. 061 301

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme