Характеристические потери энергии электронов в органических PTCDA-пленках
Комолов С.А.1, Герасимова Н.Б.1, Сидоренко А.Г.1, Аляев Ю.Г.1, Новолодский В.А.1
1Научно-исследовательский институт физики С.-Петербургского государственного университета
Поступила в редакцию: 1 июля 1999 г.
Выставление онлайн: 19 сентября 1999 г.
Проведены исследования характеристических потерь энергии медленных электронов в процессе формирования тонких пленок PTCDA на поверхности ZnO(0001). Показано, что в области низких энергий первичных электронов (<100 eV) спектр энергетических потерь (En=3.0, 6.3 и 15 eV) отражает структуру переходов между валентной зоной и зоной проводимости. С ростом энергии первичных электронов преобладающими становятся потери энергий на возбуждение плазменных колебаний (homega1=6 eV - возбуждение pi-плазмона и homega2=25 eV - возбуждение sigma-плазмона).
- Zimmermann U., Shnitzler G., Kark N., Umbach E. // Thin Solid Films. 1989. V. 175. P. 85--88
- Hirose Y., Chen W., Haskal E.I., Forrest S.R., Kahn A. // Appl. Phys. Lett. 1994. V. 64. P. 3482--3484
- Glockler K., Seider C., Soukopp A., Sokolowski M., Umbach E., Bohringer M., Berndt R., Schneider W.-D. // Surf. Sci. 1998. V. 405. N 1. P. 491--496
- Morozov A.O., Kampen T.U., Zahn D.R.T. // Surf. Sci. 1999. (в печати)
- Hengehold R.L., Pediotty F.L. // J. Appl. Phys. 1976. V. 47. P. 287
- Komolov S., Lazneva E., Moller P.J. // Surf. Sci. 1995. V. 323. P. 102--105
- Применение электронной спектроскопии для анализа поверхности / Под ред. Х. Ибаха. Рига, 1980. 315 с
- Taborski J., Vaterlein P., Dietz H., Zummermann U., Umbach E. // J. Electron Spectrosc. Relat. Phenom. 1995. V. 75. P. 129--147
- Forrest S.R. // Chemical Reviews. 1997. V. 97. N 6. P. 1793--1896
- Mochida M., Shimada T., Koma A. // J. Vac. Sci. Technol. 1997. Jul / Aug. A15(4). P. 2119--2121
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
