"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Интерференционный метод определения толщины пленок на длине волны 0.154 нм
Баранов А.М., Михайлов И.Ф.
Поступила в редакцию: 26 июля 1996 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 1996 г.

  1. Mikhailov I.F., Borisova S.S., Fomina L.P., Babenko I.N. Proc. SPIE. 1995. V. 2453.P. 186--215
  2. Кондрашов В.Е. Оптика фотокатодов. М.: Наука, 1976. 208 с
  3. Ивановский Г.Ф., Петров В.И. Ионно-плазменная обработка материалов. М.: Радио и свзяь, 1986. 232 с
  4. Зеркальная рентгеновская оптика. Л.: Машиностроение, 1989. 463 с
  5. Spiller E. Soft X-ray Optics. Washington. SPIE Optical Engineering Pres. 1994. P. 279

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.