Структурные исследования пленок CuInTe 2, полученных лазерным испарением
Гременок В.Ф.1, Викторов И.А.1, Якушев М.В.1, Киндяк В.В.1
1Институт физики твердого тела и полупроводников АН Беларуси, Минск, Беларусь Университет Салфорд, факультет электроники и электрической инженерии, Салфорд, Англия
Поступила в редакцию: 12 мая 1996 г.
Выставление онлайн: 19 ноября 1996 г.
- Shav J.I., Wernick J.H. Ternary Chalcopyrite Semiconductors: Growth. Electronic Properties and Applications. Pergamon. N-Y.,1975
- Schock H.W. Solar Energy Materials and Solar Cells. 1994. V. 34. P. 19--26
- Horig W., Neumann H., Savelev V., Lagzdonis V., Schuhmann B. Cryst. Res. Technol. 1989. V. 34. P. 823
- Thwaites M.J., Tomlinson R.D., Hampshire M.J. Phys. Status Solidi (b). 1979. V. 94. P. 211
- Haworth L.I., Al-Saffar I.S., Tomlinson R.D. Phys. Status Solidi (а). 1987. V. 99. P. 603
- Боднарь И.В., Борисенко Т.Е., Корзун Б.Б. Изв. АН СССР. Сер. Неорганич. материалы. 1984. Т. 20. N 11. С. 1810--1813
- Kazmerski L.L., Juang Y.J. J. Vac. Sci. and Technol. 1977. V. 14. P. 769
- Nadenau V., Walter T., Schock H.W. J. Cryst. Growth. 1995. V. 146. P. 251--255
- Cheung J.T., Sancur H. CRC Crit. Rev. Solid State and Mater Sci. 1988. V. 15. P. 65
- Bodnar I.V., Bologa A.P. Cryst. Res. Technol. 1982. V. 17. N 3. P. 339--344
- Stolt L., Hedstrom J., Kessler J. et. al. Appl. Phys. Lett. 1993. V. 62. P. 597
- Pern P.J., Noufic R., Mason A. Thin Solid Films. 1991. V. 202. P. 299--314
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук