Моделирование частичных разрядов в твердых диэлектриках на переменном напряжении
Куперштох А.Л.1, Стамателатос С.П.1, Агорис Д.П.1
1Институт гидродинамики им. М.А. Лаврентьева СО РАН, Новосибирск University of Patras, GR, Rion, Greece
Email: skn@hydro.nsc.ru
Поступила в редакцию: 14 февраля 2006 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2006 г.
Предложена новая модель, которая воспроизводит основные стохастические свойства явления частичных разрядов на переменном напряжении. Рассмотрены частичные разряды, соответствующие микроразрядам в маленьких кавернах, случайно распределенных в твердом диэлектрике. Возникновение частичных разрядов внутри каверн моделировалось стохастическим критерием. Чтобы описать распад плазмы в каверне и соответствующее падение проводимости до нуля, использовался простейший критерий порогового типа. В компьютерных экспериментах при подаче переменного напряжения на электроды во внешней цепи наблюдались короткие импульсы тока. Каждый пик соответствовал моменту микроразряда в каверне (частичные разряды). PACS: 52.80.-s
- Bartnikas R., Novak J.P. // IEEE Trans. Electrical Insulation. 1993. V. 28. P. 956--968
- Kreuger F.H., Gulski E., Krivda A. // IEEE Trans. Electrical Insulation. 1993. V. 28. P. 917--931
- Niemeyer L. // IEEE Trans. Dielectrics and Electricalt Insulation. 1995. V. 2. P. 510--528
- Van Brunt R.J. // IEEE Trans. Electrical Insulation. 1991. V. 26. P. 902--948
- Suwarno, Suzuoki Y., Komori F., Mizutani T. // J. Phys. D: Appl. Phys. 1996. V. 29. P. 2922--2931
- Noskov M.D., Malinovski A.S., Sack M., Schwab A.J. // IEEE Trans. Dielectrics and Electrical Insulation. 2000. V. 7. P. 725--733
- Носков М.Д., Малиновский А.С., Закк М., Шваб А.Й. // ЖТФ. 2002. Т. 72. В. 2. С. 121--128
- Gemant A., Van Philipoff W. // Zeitschrift fur Technische Physik. 1932. V. 13. P. 425--430
- Hikita M., Yamada K., Nakamura A., Mizutani T., Oohasi A., Ieda M. // IEEE Trans. Electrical Insulation. 1990. V. 25. P. 453--468
- Agoris D.P., Hatziargyriou N.D. // IEE Proceedings --- A. 1993. V. 140. N 2. P. 131--134
- Fruth B., Niemeyer L. // IEEE Trans. Electrical Insulation. 1992. V. 27. P. 60--69
- Gurfleish F., Niemeyer L. // IEEE Trans. Dielectrics and Electrical Insulation. 1995. V. 2. P. 729--743
- Heitz C. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2001. V. 32. P. 1012--1023
- Okamoto T., Kato T., Yokomizu Y., Suzuoki Y. // Electr. Eng. Japan. 2001. V. 136. P. 16--28
- Cavallini A., Montanari G.C. // IEEE Trans. Dielectrics and Electrical Insulation. 2006. (in press)
- Wu K., Suzuoki Y., Dissado L.A. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2004. V. 37. N 13. P. 1815--1823
- Morshuls P.H.F., Kreuger F.H. // J. Phys. D: Appl. Phys. 1990. V. 23. N 12. P. 1562--1568
- Karpov D.I., Kupershtokh A.L. // Conf. Record 1998. IEEE Int. Symposium on Electrical Insulation. IEEE N 98CH36239. Arlington, USA, 1998. V. 2. P. 607--610
- Kupershtokh A.L., Charalambakos V., Agoris D., Karpov D.I. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2001. V. 34. N 6. P. 936--946
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2025 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
