"Письма в журнал технической физики"
Вышедшие номера
Свечение поверхности металлических мишеней при облучении ионами Ar+ с энергией 5-20 keV
Овчинников В.В.1, Махинько Ф.Ф.1, Соломонов В.И.1, Гущина Н.В.1, Кайгородова О.А.1
1Институт электрофизики Уральского отделения РАН, Екатеринбург, Россия
Email: viae05@rambler.ru
Поступила в редакцию: 16 августа 2011 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2011 г.

Проанализирован спектральный состав свечения поверхности металлических мишеней железа (99.99 Fe), циркония (99.98 Zr) и вольфрама (99.96 W) при облучении ионами Ar+ с энергией 5-20 keV. В спектрах свечения всех трех металлов присутствуют две широкие полосы излучения, расположенные в видимой и ИК областях спектра. Первая из них связывается с излучением термических пиков (thermal spikes), представляющих собой разогретые до 5000-6000 K наноразмерные области, формирующиеся вблизи поверхности мишеней в ходе эволюции плотных каскадов атомных смещений. Наличие ИК полосы объясняется интегральным разогревом мишеней до 500-800 K в ходе их облучения. Такая точка зрения подтверждается сопоставлением экспериментальных и расчетных значений температуры в области термализованных каскадов, а также относительных интенсивностей полос свечения.
  1. White C.W., Thomas E.W., Vanderweg W.F., Tolk N.H. Inelastic ion surface collisions. North Holland Pub. Co. N.Y., 1997. Chapter 3. P. 106
  2. Плешивцев Н.В., Бажин А.И. Физика воздействия ионных пучков на материалы. М.: Вузовская книга, 1998. Глава 4. С. 134
  3. Бериш Р., Виттмак К., Легрейд Н. и др. Распыление под действием бомбардировки частицами. Вып. III. Характеристики распыленных частиц, применение в технике / Пер. с англ. под ред. Р. Берниша и К. Виттмака. М.: Мир, 1998. Глава 4. С. 300--303
  4. Ryssel H., Ruge I. Ion implantaion. New York: John Wiley and Sons, 1986. Chapter 2. P. 5--34
  5. Овчинников В.В. // Успехи физических наук. 2009. Т. 178. N 9. С. 991--1001
  6. Келли Р. Столкновительные, тепловые и электронные процессы ионного распыления. Новости физики твердого тела. Ионная имплантация в полупроводники и другие материалы. / Сб. статей. Перевод с англ. под ред. д-ра физ.-мат. наук, проф. В.С. Вавилова. М.: Мир, 1980. В. 19. С. 194
  7. Овчинников В.В., Гущина Н.В., Лузгин А.В. О зависимости объемной плотности энергии, выделенной в объеме каскада атомных столкновений, от энергии и массы внедряемых ионов. / Труды X Межнационального совещания "Радиационная физика твердого тела". Севастополь, 2000. С. 391--394
  8. Biersack J.P., Haggmark L.G. // Nucl. Instr. \& Meth. 1980. V. 174. P. 257--269
  9. Козловский В.В., Козлов В.А., Ломасов В.Н. // Физика и техника полупроводников. 2000. Т. 34. В. 2. С. 129--147
  10. Dremov V.V., Sapozhnikov A.F., Samarin S.I., Modestov D.G., Chizhikov N.E. // Journal of Alloys and Compounds. 2007. V. 444--445. P. 197--2001
  11. Samarin S.I., Dremov V.V. // Journal of Nuclear Materials. 2009. V. 385. Issue 1. P. 83--87
  12. Schweer B., Bay H.L. // Appl. Phys. A. 1982. V. 29. P. 53--55

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.