Текстурированные пленки CdO, полученные методом фототермического окисления
Загоруйко Ю.А.1, Коваленко Н.О.1, Федоренко О.А.1, Федоров А.Г.1, Матейченко П.В.1
1Институт монокристаллов НТК "Институт монокристаллов" НАН Украины, Харьков
Email: zagoruiko@isc.kharkov.ua
Поступила в редакцию: 3 августа 2006 г.
Выставление онлайн: 20 января 2007 г.
Методом фототермического окисления получены оксидные пленки CdO на поверхности монокристаллов CdS. Установлено, что пленки имеют текстурированный характер и обладают проводимостью n-типа. Электрическое сопротивление таких пленок зависит от интенсивности ультрафиолетового излучения, падающего на окисляемую поверхность. При интенсивностях (1/1.5)·103 W/m2 пленки получаются низкоомными, при (4/5)·103 W/m2 - высокоомными. Указаны возможности практического применения таких пленок. PACS: 68.55.Jk
- Шоу Д. Атомная диффузия в полупроводниках / Пер. с англ. М.: Мир, 1975. 684 с. (Atomic Diffusion in Semiconductors / Ed. by D. Shaw. London, New York: Plenum Press, 1973)
- Баранов А.М., Малов Ю.А., Терешин С.А., Вальднер В.О. // Письма в ЖТФ. 1997. Т. 23 (20). С. 70--74
- Баранов А.М., Малов Ю.А., Терешин С.А. // Письма в ЖТФ. 1997. Т. 23 (21). С. 1--6
- Загоруйко Ю.А., Пузиков В.М., Федоренко О.А., Коваленко Н.О. Модификация физических свойств полупроводников AIIBVI. Харьков: Институт монокристаллов, 2005. 355 с
- Zagoruiko Yu.A., Kovalenko N.O., Nesterenko Yu.A., Fedorenko O.A. // Functional Materials. 2002. V. 9. N 1. P. 148--150
- Загоруйко Ю.А., Росторгуева В.Ю. Фотостимулированное окисление монокристаллического селенида цинка / Синтез и исследование оптических материалов. Харьков: Сб.ВНИИМ, 1987. N 19. С. 34--37
- Zagoruiko Yu.A., Fedorenko O.A., Kovalenko N.O., Mateichenko P.V. // Semiconductor Physics, Quantum \& Optoelectronics. 2000. V. 3. N 2. P. 247--250
- 1996 JCPDS --- International Centre for Diffraction Data
- Третьяков В.Д. Твердофазные реакции. М.: Химия, 1978. 360 с
- Kiss G., Pinter Z., Perczel I.V., Sassi Z., Reti F. // Thin Solid Films. 2001. V. 391. P. 216--223
- Paraguay D.E., Miki-Yoshida M., Morales J., Solis J., Estrada L.W. // Thin Solid Films. 2000. V. 373. P. 137--140
- Miyata T., Hikosaka T., Minami T. // Surface and Coatings Technology. 2000. V. 126. P. 219--224
- Weigenrieder K.S., Miller J. // Thin Solid Films. 1997. V. 300. N 1--2. P. 30--41
- Загоруйко Ю.А., Федоренко О.А. // Функциональные материалы. 1994. Т. 1. N 2. С. 126--128
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук