Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2026
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Метод исследования магнитооптических характеристик отдельных магнитных слоев трехслойной системы
Проказников А.В.
1, Папорков В.А.
2, Лях М.А.2, Селюков Р.В.1, Наумов В.В.
1
1ЦНИТ-Ярославль Отделения физико-технологических исследований им. К.А. Валиева НИЦ "Курчатовский институт", Ярославль, Россия
2Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова, Ярославль, Россия
2Ярославский государственный университет им. П.Г. Демидова, Ярославль, Россия
Email: prokaznikov@mail.ru, vpaporkov@gmail.com, rvselyukov@mail.ru, vvnau@rambler.ru
Поступила в редакцию: 30 октября 2025 г.
В окончательной редакции: 4 декабря 2025 г.
Принята к печати: 24 декабря 2025 г.
Выставление онлайн: 10 марта 2026 г.
В интегральном магнитооптическом отклике трехслойной структуры Сo(6 nm)/Ru(10 nm)/Co(10 nm)/Si(100) выделены вклады различных отдельных слоев кобальта. Разработана и представлена методика, позволяющая на основе анализа закономерностей магнитооптических зависимостей описывать магнитные свойства отдельных магнитных слоев трехслойных систем. Развитый метод позволил определить направления осей магнитной анизотропии в каждом из слоев. Ключевые слова: магнитные свойства, многослойные структуры, магнитооптический эффект Керра, магнитная анизотропия, границы раздела. DOI: 10.21883/0000000000
- P.H. Lissberger, Rep. Prog. Phys., 33, 197 (1970). DOI: 10.1088/0034-4885/33/1/305
- N. Saito, R. Sato, N. Kawamura, M. Kajiura, Jpn. J. Appl. Phys., 28, 343 (1989). DOI: 10.7567/JJAPS.28S3.343
- R. Atkinson, N.F. Kubrakov, S.N. Utochkin, A.K. Zvezdin, J. Appl. Phys., 75, 6786 (1994). DOI: 10.1063/1.356830
- R. Gamble, P.H. Lissberger, J. Opt. Soc. Am. A, 5, 1533 (1988). DOI: 10.1364/JOSAA.5.001533
- J. Hamrle, J. Ferre, M. Nyvlt, S. Visnovsky, Phys. Rev. B, 66, 224423 (2002). DOI: 10.1103/PhysRevB.66.224423
- Yu. Tsema, M. Savoini, A. Tsukamoto, A.V. Kimel, A. Kirilyuk, Th. Rasing, Appl. Phys. Lett., 109, 172403 (2016). DOI: 10.1063/1.4966183
- D.O. Ignatyeva, C.S. Davies, D.A. Sylgacheva, A. Tsukamoto, H. Yoshikawa, P.O. Kapralov, A. Kirilyuk, V.I. Belotelov, A.V. Kimel, Nat. Commun., 10, 4786 (2019). DOI: 10.1038/s41467-019-12699-0
- O.V. Borovkova, D.O. Ignatyeva, V.I. Belotelov, Sci. Rep., 11, 2239 (2021). DOI: 10.1038/s41598-021-81887-0
- A.K. Zvezdin, V.A. Kotov, Modern magnetooptics and magnetooptical materials (Bristol, Philadelphia, 1997)
- E. Oblak, P. Riego, L. Fallarino, A. Marti nez-de-Guerenu, F. Arizti, A. Berger, J. Phys. D, 50, 23LT01 (2017). DOI: 10.1088/1361-6463/aa6df2
- Э.Ю. Бучин, Е.И. Ваганова, В.В. Наумов, В.А. Папорков, А.В. Проказников, Письма в ЖТФ, 35 (13), 8 (2009). [E.Yu. Buchin, E.I. Vaganova, V.V. Naumov, V.A. Paporkov, A.V. Prokaznikov, Tech. Phys. Lett., 35 (7), 589 (2009). DOI: 10.1134/S1063785009070025]
- В.А. Папорков, А.В. Проказников, Микроэлектроника, 48 (1), 63 (2019). DOI: 10.1134/S0544126919010083 [V.A. Paporkov, A.V. Prokaznikov, Russ. Microelectron., 48 (1), 43 (2019). DOI: 10.1134/S1063739719010086]
