Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2026
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Оптические свойства тонкой никелевой пленки при воздействии терагерцевых импульсов с высокой напряженностью электрического поля
Исследование выполнено за счет гранта Российского научного фонда, 24-19-00311
1Объединенный институт высоких температур РАН, Москва, Россия 
2Сколковский институт науки и технологий, Москва, Россия
2Сколковский институт науки и технологий, Москва, Россия
Email: ovtch2006@yandex.ru
Поступила в редакцию: 16 октября 2025 г.
В окончательной редакции: 18 ноября 2025 г.
Принята к печати: 10 декабря 2025 г.
Выставление онлайн: 10 марта 2026 г.
Представлены результаты экспериментальных исследований комплексного показателя преломления тонкой пленки никеля при воздействии субпикосекундных терагерцевых импульсов с напряженностью электрического поля 0.5-10 MV/cm. В экспериментах использовалась пленка никеля толщиной 20 nm, нанесенная на стеклянную подложку толщиной 160 μm. Исследования проводились в диапазоне спектра 0.25-2.25 THz. Ключевые слова: терагерцевое излучение, тонкая пленка никеля, комплексный показатель преломления, оптические константы. DOI: 10.21883/0000000000
- S. Mansourzadeh, T. Vogel, A. Omar, T.O. Buchmann, E.J.R. Kelleher, P.U. Jepsen, C.J. Saraceno, Opt. Mater. Express, 13 (11), 3287 (2023). DOI: 10.1364/ome.502209
- S. Makhlouf, O. Cojocari, M. Hofmann, T. Nagatsuma, S. Preu, N. Weimann, H.-W. Hubers, A. Stohr, IEEE J. Microwaves, 3 (3), 894 (2023). DOI: 10.1109/JMW.2023.3282875
- A. Leitenstorfer, A.S. Moskalenko, T. Kampfrath, J. Kono, E. Castro-Camus, K. Peng, N. Qureshi, D. Turchinovich, K. Tanaka, A.G. Markelz, M. Havenith, C. Hough, H.J. Joyce, W.J. Padilla, B. Zhou, K.-Y. Kim, X.-C. Zhang, P.U. Jepsen, S. Dhillon, M. Vitiello, E. Linfield, A.G. Davies, M.C. Hoffmann, R. Lewis, M. Tonouchi, P. Klarskov, T.S. Seifert, Y.A. Gerasimenko, D. Mihailovic, R. Huber, J.L. Boland, O. Mitrofanov, P. Dean, B.N. Ellison, P.G. Huggard, S.P. Rea, C. Walker, D.T. Leisawitz, J.R. Gao, C. Li, Q. Chen, G. Valuvsis, V.P. Wallace, E. Pickwell-MacPherson, X. Shang, J. Hesler, N. Ridler, C.C. Renaud, I. Kallfass, T. Nagatsuma, J.A. Zeitler, D. Arnone, M.B. Johnston, J. Cunningham, J. Phys. D, 56 (22), 223001 (2023). DOI: 10.1088/1361-6463/acbe4c
- M. Han, D. Smith, S.H. Ng, Z. Vilagosh, V. Anand, T. Katkus, I. Reklaitis, H. Mu, M. Ryu, J. Morikawa, J. Vongsvivut, D. Appadoo, S. Juodkazis, Micromachines, 13 (8), 1170 (2022). DOI: 10.3390/mi13081170
- M.A. Dem'yanenko, I.V. Marchishin, V.V. Startsev, OSA Continuum, 2 (6), 2085 (2019). DOI: 10.1364/osac.2.002085
- F.-Y. Ma, J.-P. Su, Q.-X. Gong, J. Yang, Y.-L. Du, M.-T. Guo, B. Yuan, Chin. Phys. Lett., 28 (9), 097803 (2011). DOI: 10.1088/0256-307X/28/9/097803
- D.-X. Zhou, E.P.J. Parrott, D.J. Paul, J.A. Zeitler, J. Appl. Phys., 104 (5), 053110 (2008). DOI: 10.1063/1.2970161
- S.G. Bezhanov, S.A. Uryupin, Opt. Lett., 43 (13), 3069 (2018). DOI: 10.1364/ol.43.003069
- M. Koch, D.M. Mittleman, J. Ornik, E. Castro-Camus, Nat. Rev. Meth. Primers, 3 (1), 48 (2023). DOI: 10.1038/s43586-023-00232-z
- A.V. Ovchinnikov, O.V. Chefonov, M.B. Agranat, M. Shalaby, D.S. Sitnikov, Opt. Lett., 47 (21), 5505 (2022). DOI: 10.1364/ol.475960
- X. Ropagnol, C. Garcia-Rosas, H. Uchida, F. Blanchard, T. Ozaki, J. Phys. Photon., 7 (4), 045002 (2025). DOI: 10.1088/2515-7647/adf168
- A.V. Ovchinnikov, I.V. Il'ina, M.A. Ovchinnikov, O.V. Chefonov, Opt. Lett., 49 (21), 6021 (2024). DOI: 10.1364/ol.534216
- L. Duvillaret, F. Garet, J.-L. Coutaz, IEEE J. Sel. Top. Quantum Electron., 2 (3), 739 (1996). DOI: 10.1109/2944.571775
- С.И. Ашитков, П.С. Комаров, А.В. Овчинников, С.А. Ромашевский, Е.В. Струлева, О.В. Чефонов, М.Б. Агранат, Письма в ЖЭТФ, 120 (8), 605 (2024). DOI: 10.31857/S0370274X24100181 [S.I. Ashitkov, P.S. Komarov, A.V. Ovchinnikov, S.A. Romashevskiy, E.V. Struleva, O.V. Chefonov, M.B. Agranat, JETP Lett., 120 (8), 580 (2024). DOI: 10.1134/S002136402460349X].
