Калибровка рентгеновского спектрометра для измерения электронной температуры по спектрам тормозного излучения плазмы токамака ФТ-2
Кантор М.Ю.1, Буц М.К.1, Алтухов А.Б.1, Есипов Л.А.1, Куприенко Д.В.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: m.kantor@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 3 мая 2024 г.
В окончательной редакции: 12 июля 2024 г.
Принята к печати: 30 октября 2024 г.
Выставление онлайн: 27 декабря 2024 г.
На токамаке ФТ-2 для измерения спектров тормозного излучения плазмы установлен спектрометр мягкого рентгеновского излучения на базе кремниевого дрейфового детектора с выходной скоростью счета фотонов до 3· 106 s-1 при энергетическом разрешении <150 eV. Спектрометр разработан для измерения быстрой динамики функции распределения электронов высоких энергий. Спектрометр можно также использовать для измерения электронной температуры по форме спектров в области низких энергий фотонов. Для этого проводится калибровка спектрометра и уточняется толщина бериллиевого окна. Полученные результаты используются при моделировании спектров тормозного излучения, которые сравниваются с измеренными на токамаке ФТ-2. Ключевые слова: диагностика плазмы, тормозное излучение, SDD-спектрометр.
- P. Lechner, C. Fiorini, R. Hartmann, J. Kemmer, N. Krause, P. Leutenegger, A. Longoni, H. Soltau, D. Stotter, R. Stotter, L. Struder, U. Weber, Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A, 458 (1-2), 281 (2001). DOI: 10.1016/S0168-9002(00)00872-X
- P. Xu, L.Q. Hu, S.Y. Lin, Y.M. Duan, J.Z. Zhang, G.Q. Zhong, K.Y. Chen, Plasma Phys. Contr. Fusion, 52 (7), 075013 (2010). DOI: 10.1088/0741-3335/52/7/075013
- A. Weller, B. Huber, J. Belapure, T. Putterich, M. Sertoli, A. Gude, R. Neu, R. Dux, W. Suttrop, in 38th EPS Conf. on plasma physics (Strasbourg, France, 2011), P5.054
- Y. Shi, Z. Chen, B. Wan, B. Lv, L. Hu, S. Lin, Q. Hu, J. Qian, H. Liu, S. Liu, Y. Xu, J. Shan, J. Li, Rev. Sci. Instrum., 75 (11), 4930 (2004). DOI: 10.1063/1.1808911
- А.И. Мещеряков, И.Ю. Вафин, И.А. Гришина, ПТЭ, N 6, 84 (2018). DOI: 10.1134/S0032816218050233 [A.I. Meshcheryakov, I.Yu. Vafin, I.A. Grishina, Instrum. Exp. Tech., 61 (6), 842 (2018). DOI: 10.1134/S0020441218050196]
- AMPTEK 70 mm2 FAST SDD. https://www.amptek.com/products/ x-ray-detectors/fastsdd-x-ray-detectors-for-xrf-eds/fastsdd-silicon-drift-detector
- Yu.V. Tuboltsev, Yu.V. Chichagov, A.A. Bogdanov, M.Yu. Kantor, A.V. Sidorov, St. Petersburg Polytech. Univ. J. --- Physics and Mathematics, 16 (1.1), 438 (2023). DOI: 10.18721/JPM.161.175
- M.Yu. Kantor, A.V. Sidorov, JINST, 14, P01004 (2019). DOI: 10.1088/1748-0221/14/01/P01004
- M.Yu. Kantor, A.V. Sidorov, JINST, 15, P06015 (2020). DOI: 10.1088/1748-0221/15/06/P06015
- М.К. Буц, М.Ю. Кантор, Л.А. Есипов, Письма в ЖТФ, 50 (24), 56 (2024)
- M.Yu. Kantor, Rev. Sci. Instrum., 72 (1), 1162 (2001). DOI: 10.1063/1.1319371
- J.L. Campbell, D.J.T. Cureatz, E.L. Flannigan, C.M. Heirwegh, J.A. Maxwell, J.L. Russell, S.M. Taylor, Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B, 499, 77 (2021). DOI: 10.1016/j.nimb.2021.05.004
- E.L. Flannigan, C.M. Heirwegh, J.L. Campbell, X-ray Spectrom., 47 (1), 63 (2018). DOI: 10.1002/xrs.2812
- F. Scholze, G. Ulm, Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A, 339 (1-2), 49 (1994). DOI: 10.1016/0168-9002(94)91777-9
- D.M. Schlosser, P. Lechner, G. Lutz, A. Niculae, H. Soltau, L. Struder, R. Eckhardt, K. Hermenau, G. Schaller, F. Schopper, O. Jaritschin, A. Liebel, A. Simsek, C. Fiorini, A. Longoni, Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A, 624 (2), 270 (2010). DOI: 10.1016/j.nima.2010.04.038
- N. Itoh, T. Sakamoto, S. Kusano, S. Nozava, Y. Kohyama, Astrophys. J. Suppl. Ser., 128 (1), 125 (2000). DOI: 10.1086/313375
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.