Письма в журнал технической физики
Авторам
Вышедшие номера
- 2025
- 2024
- 2023
- 2022
- 2021
- 2020
- 2019
- 2018
- 2017
- 2016
- 2015
- 2014
- 2013
- 2012
- 2011
- 2010
- 2009
- 2008
- 2007
- 2006
- 2005
- 2004
- 2003
- 2002
- 2001
- 2000
- 1999
- 1998
- 1997
- 1996
- 1995
- 1994
- 1993
- 1992
- 1991
- 1990
- 1989
- 1988
Чувствительность обнаружения микрообъектов при радиографии толстых стальных объектов с использованием нового источника микрофокусного тормозного излучения на основе бетатрона
Российский научный фонд, Конкурс 2022 года «Проведение инициативных исследований молодыми учеными» Президентской программы исследовательских проектов, реализуемых ведущими учеными, в том числе молодыми учеными, 22-79-00249
1Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Томск, Россия 
Email: rychkov@tpu.ru
Поступила в редакцию: 7 апреля 2023 г.
В окончательной редакции: 12 августа 2023 г.
Принята к печати: 18 августа 2023 г.
Выставление онлайн: 18 сентября 2023 г.
Показана возможность и оценена чувствительность обнаружения микрообъектов при радиографии толстых стальных объектов при использовании микрофокусного (13 μm) тормозного излучения нового источника, созданного на основе бетатрона с энергией электронов 18 MeV. Продемонстрированы контраст изображений и разрешение пары тонких (48 μm) проволок прибора Duplex IQI, что является основой определения чувствительности обнаружения микрообъектов. Ключевые слова: бетатрон, пучок электронов, тормозное излучение, радиография. DOI: 10.61011/PJTF.2023.19.56273.19583
- https://www.comet-xray.cn/CometXRay/media/Content/pdf_ mxr-451hp_11_de_v1.pdf
- М.М. Рычков, В.В. Каплин, К.В. Сухарников, И.К. Васьковский, Письма в ЖЭТФ, 103 (11), 816 (2016). DOI: 10.7868/S0370274X16110126 [M.M. Rychkov, V.V. Kaplin, K. Sukharnikov, I.K. Vaskovskii, JETP Lett., 103 (11), 723 (2016). DOI: 10.1134/S0021364016110114]
- M.M. Rychkov, V.V. Kaplin, E.I. Malikov, V.A. Smolyanskii, V. Gentsel'man, I.K. Vas'kovskii, J. Nondestruct. Eval., 37 (1), 13 (2018). DOI: 10.1007/s10921-018-0464-6
- Website of the IE-NTD, Ltd [Электронный ресурс]. http://ie-ndt.co.uk/en4625astme2002duplexiqi.html
- K. Bavendiek, U. Ewert, A. Riedo, U. Heike, U. Zscherpel, in Proc. of the 18th World Conf. on nondestructive testing (South African Institute for Non-Destructive Testing, 2012). http://www.ndt.net/article/wcndt2012/papers/ 346_wcndtfinal00346.pdf
- S.V. Wilkins, T.E. Gureyev, D. Gao, A. Pogany, A. Stevenson, Nature, 384, 335 (1996). DOI: 10.1038/384335a0
- H. Yamada, Jpn. Appl. Phys., 35 (2A), L182 (1996). DOI: 10.1143/JJAP.35.L182
- V.S. Pushin, V.L. Chakhlov, Patent RU 2072643 (1997). http://www.findpatent.ru/patent/207/2072643.html
- M.M. Rychkov, V.V. Kaplin, V.A. Smolyanskii, J. Phys: Conf. Ser., 1327, 012014 (2019). DOI: 10.1088/1742-6596/1327/1/012014
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
