Показано использование сгустков дейтронов (числом до 10¹³ за выстрел), коллективно ускоренных в диоде Люса до средней энергии 1200± 200 keV, для радиоактивационного определения стехиометрии покрытий AlN с известной толщиной. В каждом выстреле энергия дейтронов определялась измерением скорости дрейфа виртуального катода, коллективно ускоряющего сгустки дейтронов, а стехиометрия покрытия определялась с точностью не хуже ± 5% по соотношению активностей радионуклидов ²⁸Al/¹⁵O, индуцированных в ядерных реакциях ²⁷Al(d,p)²⁸Al и ¹⁴N(d,n)¹⁵O соответственно. Ключевые слова: коллективное ускорение ионов, виртуальный катод, радиоактивационный анализ, стехиометрия, покрытие.

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.