Определение стехиометрии покрытий AlN радиоактивацией сгустками коллективно ускоренных дейтронов
Российского фонда фундаментальных исследований (РФФИ), 20-21-00025\20
Росатом, 20-21-00025\20
Рыжков В.А.
1, Журавлев М.В.
11Национальный исследовательский Томский политехнический университет, Томск, Россия
Email: ryzhkov@tpu.ru
Поступила в редакцию: 30 января 2023 г.
В окончательной редакции: 15 мая 2023 г.
Принята к печати: 16 мая 2023 г.
Выставление онлайн: 18 июня 2023 г.
Показано использование сгустков дейтронов (числом до 1013 за выстрел), коллективно ускоренных в диоде Люса до средней энергии 1200± 200 keV, для радиоактивационного определения стехиометрии покрытий AlN с известной толщиной. В каждом выстреле энергия дейтронов определялась измерением скорости дрейфа виртуального катода, коллективно ускоряющего сгустки дейтронов, а стехиометрия покрытия определялась с точностью не хуже ± 5% по соотношению активностей радионуклидов 28Al/15O, индуцированных в ядерных реакциях 27Al(d,p)28Al и 14N(d,n)15O соответственно. Ключевые слова: коллективное ускорение ионов, виртуальный катод, радиоактивационный анализ, стехиометрия, покрытие.
- K. Ueno, E. Kishikawa, S. Inoue, J. Ohta, H. Fujioka, M. Oshima, H. Fukuyama, Phys. Status Solidi (RRL), 8 (3), 256 (2013). DOI: 10.1002/pssr.201308275
- J. Borges, N.P. Barradas, E. Alves, M.F. Beaufort, D. Eyidi, F. Vaz, L. Marques, J. Phys. D: Appl. Phys., 46 (1), 015305 (2012). DOI: 10.1088/0022-3727/46/1/015305
- L. Behera, N. Pandey, M. Gupta, AIP Conf. Proc., 2265, 030310 (2020). DOI: 10.1063/5.0017482
- S. Cho, M. Lee, S. Lee, J. Chang, New Phys.: Sae Mulli, 67 (8), 929 (2017). DOI: 10.3938/NPSM.67.929
- H. Moreno Fernandez, D. Rogler, G. Sauthier, M. Thomasset, R. Dietsch, V. Carlino, E. Pellegrin, Sci. Rep., 8, 1293 (2018). DOI: 10.1038/s41598-018-19273-6
- M. Stormer, F. Siewert, H. Sinn, J. Synch. Rad., 23 (1), 50 (2016). DOI: 10.1107/S1600577515020901
- A.S. Kamenetskikh, N.V. Gavrilov, O.V. Koryakova, S.O. Cholakh, J. Phys.: Conf. Ser., 857, 012017 (2017). DOI: 10.1088/1742-6596/857/1/012017
- В.А. Рыжков, В.А. Тарбоков, Е.А. Смолянский, Г.Е. Ремнев, Письма в ЖТФ, 47 (10), 26 (2021). DOI: 10.21883/PJTF.2021.10.50969.18722 [V.A. Ryzhkov, V.A. Tarbokov, E.A. Smolyanskii, G.E. Remnev, Tech. Phys. Lett., 47, 524 (2021). DOI: 10.1134/S106378502105028X]
- T.J. Renk, P.P. Provencio, S.V. Prasad, A.S. Shlapakovski, A.V. Petrov, K. Yatsui, W. Jiang, H. Suematsu, Proc. IEEE, 92 (7), 1057 (2004). DOI: 10.1109/JPROC.2004.829024
- J. Zhang, H. Zhong, J. Shen, X. Yu, S. Yan, X. Le, Surf. Coat. Technol., 388, 125599 (2020). DOI: 10.1016/j.surfcoat.2020.125599
- J.S. Luce, H. Sahlin, N.R. Crites, IEEE Trans. Nucl. Sci., NS-20 (3), 336 (1973)
- А.А. Плютто, К.В. Суладзе, С.М. Темчин, Е.Д. Короп, Атомная энергия, 27 (5), 418 (1969). [A.A. Plyutto, K.V. Suladze, S.M. Temchin, E.D. Korop, Sov. Atom. Energy, 27 (5), 1197 (1969). DOI: 10.1007/BF01164972]
- V.A. Ryzhkov, I.N. Pyatkov, G.E. Remnev, Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. A, 1042, 167436 (2022). DOI: 10.1016/j.nima.2022.167436
- В.А. Рыжков, И.Н. Пятков, Э.В. Киблер, М.В. Журавлев, Г.Е. Ремнев, Изв. вузов. Физика, 64 (1), 130 (2021). DOI: 10.17223/00213411/64/1/130 [V.A. Ryzhkov, I.N. Pyatkov, E.V. Kibler, M.V. Zhuravlev, G.E. Remnev, Russ. Phys. J., 64 (1), 151 (2021). DOI: 10.1007/s11182-021-02311-8]
- F.C. Young, in Proc. of the Workshop on measurement of electrical quantities in pulse power systems (National Bureau of Standards, Вoulder, Colorado, 1981), NBS Special Publication 628, p. 107. https://nvlpubs.nist.gov/nistpubs/Legacy/SP/nbsspecialpubli- cation628.pdf
- J.F. Ziegler, M.D. Ziegler, J.P. Biersack, Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. B, 268 (11-12), 1818 (2010). DOI: 10.1016/j.nimb.2010.02.091
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.