Влияние микропримесей d-элементов на электронную структуру кристаллитов оксида бария в катодах СВЧ-приборов
Капустин В.И.1, Ли И.П.2, Шуманов А.В.1,2, Москаленко С.О.1,2, Залялиев Р.Р.1, Кожевникова Н.Е.2
1МИРЭА - Российский технологический университет, Москва, Россия
2АО "Плутон", Москва, Россия
Email: kapustin@mirea.ru
Поступила в редакцию: 15 августа 2019 г.
Выставление онлайн: 20 января 2020 г.
С использованием метода электронной спектроскопии для химического анализа впервые экспериментально установлено, что микропримеси d-элементов (W, Re, Ni, Pd, Os) в кристаллитах ВаО из состава катодов СВЧ-приборов приводят к формированию на поверхности кристаллитов поверхностных состояний донорного типа, которые могут частично компенсировать поверхностные состояния акцепторного типа, обусловленные поверхностными кислородными вакансиями, что приводит к снижению потенциального барьера на поверхности кристаллитов и соответственно к снижению величины работы выхода катода. Ключевые слова: катоды СВЧ-приборов, кристаллиты оксида бария, микропримеси d-элементов, поверхностные состояния донорного и акцепторного типа.
- Капустин В.И. // Перспективные материалы. 2000. N 2. С. 5--17
- Капустин В.И., Ли И.П., Шуманов А.В., Лебединский Ю.Ю., Заблоцкий А.В. // ЖТФ. 2017. Т. 87. В. 1. С. 105--115.
- Капустин В.И., Ли И.П., Шуманов А.В., Москаленко С.О., Буш А.А., Лебединский Ю.Ю. // ЖТФ. 2019. Т. 89. В. 5. С. 771--780.
- Свешников В.К., Базаркин А.Ф. // Электронная техника. Сер. 1. СВЧ-техника. 2014. В. 1(520). С. 70--75
- Дюбуа Б.Ч., Королев А.Н. // Электронная техника. Сер. 1. СВЧ-техника. 2011. Вып. 1(509). С. 5--25
- Капустин В.И., Ли И.П., Петров В.С., Леденцова Н.Е., Турбина А.В. // Электронная техника. Сер. 1. СВЧ-техника. 2016. В. 1(528). С. 8--18.
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.