Вышедшие номера
Влияние кислородных вакансий на формирование и структуру филамента в мемристорах на основе диоксида кремния
Переводная версия: 10.1134/S1063785020010083
РФФИ, мол_а, 18-37-00456
Окулич Е.В.1, Окулич В.И.1, Тетельбаум Д.И.1
1Нижегородский государственный университет им. Н.И. Лобачевского, Нижний Новгород, Россия
Email: eokulich@nifti.unn.ru, victorokulich@mail.ru, tetelbaum@phys.unn.ru
Поступила в редакцию: 29 июля 2019 г.
Выставление онлайн: 20 декабря 2019 г.

Установлен факт улучшения параметров мемристора на основе SiO2 при создании каскадов смещения в приповерхностном слое пленки диоксида кремния в результате облучения ее ионами Xe+. Молекулярно-динамическое моделирование структуры аморфного SiO2, обогащенного кислородными вакансиями, показало возможность возникновения зародышей нанокластеров кремния, которые способны играть существенную роль в формировании и эволюции проводящих ток путей (филаментов) и тем самым влиять на параметры мемристора. Ключевые слова: мемристивные структуры, диоксид кремния, филамент, ионное облучение, нанокластеры, молекулярно-динамическое моделирование.