Исследование разупорядочения в твердых растворах теллуридов кадмия-ртути оптическими методами
Иванов-Омский В.И.
1, Мынбаев К.Д.
1, Трапезникова И.Н.1, Андрющенко Д.А.2, Баженов Н.Л.
1, Михайлов Н.Н.3, Варавин В.С.
3, Ремесник В.Г.3, Дворецкий С.А.3, Якушев М.В.
3
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
2Университет ИТМО, Санкт-Петербург, Россия
3Институт физики полупроводников им. А.В. Ржанова Сибирского отделения Российской академии наук, Новосибирск, Россия
Email: ivanov.ivom@mail.ioffe.ru, mynkad@mail.ioffe.ru, trapeza@mail.ioffe.ru, dimitriy296@mail.ru, bazhnil.ivom@mail.ioffe.ru, mikhailov@isp.nsc.ru, varavin@isp.nsc.ru, remesnik@isp.nsc.ru, dvor@isp.nsc.ru, yakushev@isp.nsc.ru
Поступила в редакцию: 12 марта 2019 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2019 г.
Путем исследования оптического пропускания и фотолюминесценции изучено разупорядочение в пленках твердых растворов теллуридов кадмия-ртути, выращенных с помощью молекулярно-лучевой эпитаксии на подложках из Si и GaAs. Обсуждаются эффект существенного снижения масштаба разупорядочения в результате термического отжига и возможная связь наблюдаемых явлений с дефектами, типичными для пленок материала, выращенного методом молекулярно-лучевой эпитаксии. Ключевые слова: теллуриды кадмия-ртути, разупорядочение, оптическое пропускание, люминесценция.
- Lei W., Antoszewski J., Faraone L. // Appl. Phys. Rev. 2015. V. 2. N 4. P. 041303
- Kinch M. // J. Electron. Mater. 2015. V. 44. N 9. P. 2969--2976
- Rogalski A., Martyniuk P., Kopytko M. // Rep. Prog. Phys. 2016. V. 79. N 4. P. 046501
- Gille P., Herrmann K.H., Puhlmann N., Schenk M., Tomm J.W., Werner L. // J. Cryst. Growth. 1988. V. 86. N 1-4. P. 593--598
- Lusson A., Fuchs F., Marfaing Y. // J. Cryst. Growth. 1990. V. 101. N 1-4. P. 673--677
- Fuchs F., Koidl P. // Semicond. Sci. Technol. 1991. V. 6. N 12C. P. C71--C75
- Oudadjaout D., Marfaing Y. // Phys. Rev. B. 1990. V. 41. N 17. P. 12096--12105
- Mynbaev K.D., Bazhenov N.L., Dvoretsky S.A., Mikhailov N.N., Varavin V.S., Marin D.V., Yakushev M.V. // J. Electron. Mater. 2018. V. 47. N 8. P. 4731--4736
- Bazovkin V.M., Dvoretsky S.A., Guzev A.A., Kovchavtsev A.P., Marin D.V., Polovinkin V.G., Sabinina I.V., Sidorov G.Yu., Tsarenko A.V., Vasil'ev V.V., Varavin V.S., Yakushev M.V. // Infrared Phys. Technol. 2016. V. 76. P. 72--74
- Sidorov Yu.G., Anciferov A.P., Varavin V.S., Dvoretsky S.A., Mikhailov N.N., Yakushev M.V., Sabinina I.V., Remesnik V.G., Ikusov D.G., Uzhakov I.N., Sidorov G.Yu., Kuzmin V.D., Rihlicky S.V., Shvets V.A., Mardezov A.S., Spesivcev E.V., Gutakovskii A.K., Latyshev A.V. Molecular beam epitaxy of CdxHg1-xTe // Advances in semiconductor nanostructures: growth, characterization, properties and applications. Amsterdam: Elsevier, 2017. Ch. 12. P. 297--323
- Moazzami K., Phillips J., Lee D., Edwall D., Carmody M., Piquette E., Zandian M., Arias J. // J. Electron. Mater. 2004. V. 33. N 6. P. 701--708
- Бахтин П.А., Варавин В.С., Дворецкий С.А., Кравченко А.Ф., Латышев А.В., Михайлов Н.Н., Сабинина И.В., Сидоров Ю.Г., Якушев М.В. // ФТП. 2003. Т. 37. В. 11. С. 1369--1373
- Yue F., Shao J., Lu X., Huang W., Chu J., Wu J., Lin X., He L. // Appl. Phys. Lett. 2016. V. 89. N 2. P. 021912
- Сидоров Ю.Г., Якушев М.В., Варавин В.С., Колесников А.В., Труханов Е.М., Сабинина И.В., Лошкарев И.Д. // ФТТ. 2015. Т. 57. В. 11. C. 2095--2101
- Сабинина И.В., Гутаковский А.К., Сидоров Ю.Г., Латышев А.В. // Письма в ЖЭТФ. 2011. Т. 94. В. 4. С. 348--352
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.