Вышедшие номера
Образование кластеров спайков в CMOS-матрицах, облученных протонами и нейтронами
Переводная версия: 10.1134/S106378501811010X
Иванов Н.А.1, Лобанов О.В.1, Пашук В.В.1, Прыгунов М.О.2, Сизова К.Г.3
1Петербургский институт ядерной физики им. Б.П. Константинова, Национальный исследовательский центр "Курчатовский институт", Гатчина, Ленинградская область, Россия
2ООО "О2 Световые Системы", Санкт-Петербург, Россия
3ООО "НПЦ "Гранат", Санкт-Петербург, Россия
Email: ksizova@npcgranat.ru
Поступила в редакцию: 9 июля 2018 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2018 г.

Исследованы распределения пикселей с большой величиной темнового тока в CMOS-матрицах, облученных протонами с энергией 1000 MeV и нейтронами сплошного спектра, моделирующего энергетический спектр атмосферных нейтронов. Получены данные об образовании кластеров спайков в облученных матрицах и влиянии времени экспозиции на параметры кластеров.
  1. Hopkinson G.R., Goiffon V., Mohammadzadeh A. // IEEE Trans. Nucl. Sci. 2008. V. 55. N 4. P. 2197--2204
  2. Ермаков К.Н., Иванов Н.А., Лобанов О.В., Пашук В.В., Тверской М.Г., Любинский С.М. // Письма в ЖТФ. 2010. Т. 36. В. 13. С. 54--60
  3. Иванов Н.А., Лобанов О.В., Митин Е.В., Пашук В.В., Тверской М.Г. // Письма в ЖТФ. 2013. Т. 39. В. 17. С. 35--43
  4. Абросимов Н.К., Вайшнене Л.А., Воробьев А.С., Иванов Е.М., Михеев Г.Ф., Рябов Г.А., Тверской М.Г., Щербаков О.А. // Приборы и техника эксперимента. 2010. N 4. C. 5--12
  5. Физические величины. Справочник / Под ред. И.С. Григорьева, Е.З. Мейлихова. М.: Энергоатомиздат, 1991. 1232 с
  6. Ермаков К.Н., Иванов Н.А., Пашук В.В., Тверской М.Г. // Вопр. атомной науки и техники. Сер. Физика радиационного воздействия на радиоэлектронную аппаратуру. Науч.-техн. сб. М., 2007. В. 1-2. С. 20--23
  7. Барашенков В.С. Сечения взаимодействия частиц и ядер с ядрами. Дубна: ОИЯИ, 1993, 346 с

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.