Внутрирезонаторная волноводная спектроскопия тонких пленок
Шульга А.В.
1, Хомченко А.В.
1, Шилова И.В.
11Белорусско-Российский университет, Могилев, Беларусь
Email: ashulga@tut.by, avkh@mogilev.by, irina.schilova@tut.by
Поступила в редакцию: 5 июня 2018 г.
Выставление онлайн: 20 октября 2018 г.
Предложен метод внутрирезонаторной волноводной спектроскопии для измерения малых оптических потерь в тонких пленках, который также позволяет осуществлять дискриминацию поперечных и продольных мод в лазерах с малым коэффициентом усиления без внесения в резонатор значительных потерь.
- Khomchenko A.V. Waveguide spectroscopy of thin films. N.Y.: Academic Press, 2005. 228 p
- Соколов В.И., Марусин Н.В., Панченко В.Я., Савельев А.Г., Семиногов В.Н., Хайдуков Е.В. // Квантовая электроника. 2013. Т. 43. N 12. С. 1149--1153
- Сотский А.Б., Steingart L.M., Jackson J.H., Парашков С.О., Дзен И.С., Сотская Л.И. // ЖТФ. 2015. Т. 85. В. 8. С. 116--123
- Хомченко А.В. // Изв. РАН. Сер. физ. 2016. Т. 80. N 4. С. 471--476
- Baev V.M. , Latz T., Toschek P.E. // Appl. Phys. B. 1999. V. 69. N 3. P. 171--202
- Csele M.S. Laser modeling. A numerical approach with algebra and calculus. London-N. Y.: CRC Press, Taylor \& Francis Group, 2014. 260 p
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
