Вышедшие номера
Home » Письма в журнал технической физики » Год 2018, выпуск 12 » Статья стр. 96
<<<>>>
Форма распределения интенсивности рентгеновской дифракции в обратном пространстве и ее связь с дислокационной структурой эпитаксиальных слоев
DOI: 10.21883/PJTF.2018.12.46297.17100
Переводная версия: 10.1134/S106378501806024X
Кютт Р.Н.1, Щеглов М.П.1
1Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе РАН, Санкт-Петербург, Россия
Email: R.Kyutt@mail.ioffe.ru
Поступила в редакцию: 30 октября 2017 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2018 г.
PDF версия
Измерена дифракция в асимметричной брэгговской геометрии и построены карты распределения интенсивности в обратном пространстве для эпитаксиальных слоев GaN, выращенных на c-сапфире, с разной степенью структурного совершенства. Подтверждено, что для регулярной системы прорастающих перпендикулярных прямолинейных дислокаций контуры равной интенсивности вытянуты в направлении, параллельном поверхности. При более хаотичном распределении дислокаций с большой долей горизонтальных фрагментов контуры развернуты в сторону направления, перпендикулярного вектору обратной решетки, хотя и не достигают предельного положения, характеризующего идеально мозаичный кристалл.
  1. Heinke H., Kirchner V., Einfeldt S., Hommel A. // Appl. Phys. Lett. 2000. V. 77. N 14. P. 2145--2147
  2. Alexe G., Heinke H., Haase L., Hommel D., Schreiber J., Albrecht M., Strunk H.P. // J. Appl. Phys. 2005. V. 97. N 10. P. 103506. (1--6)
  3. Poust B., Hejing B., Hayachi S., Ho R., Matney K., Sandhu R., Wojtowicz M., Goorsky M. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2005. V. 38. N 10A. P. A93--98
  4. Barchuk M., Holy V., Miljevich B., Krause B., Baumbach T., Hertkorn J., Sholz F. // J. Appl. Phys. 2010. V. 108. N 4. P. 043521
  5. Kyutt R.N., Shcheglov M.P., Ratnikov V.V., Davydov V.Yu., Smirnov A.N., Rozhavskaya M.M., Zavarin E.E., Lundin V.V. // Cryst. Rep. 2013. V. 58. N 7. P. 953--958
  6. Кютт Р.Н., Ратников В.В., Мосина Г.Н., Щеглов М.П. // ФТТ. 1999. Т. 41. В. 1. С. 30--37
  7. Ratnikov V.V., Kyutt R.N., Shubina T.V., Pashkova T., Monemar B. // J. Phys. D.: Appl. Phys. 2001. V. 34. N 10A. P. A30--A34
  8. Kyutt R.N., Banshchikov A.G., Kaveev A.K., Sokolov N.S., Ohtake Y., Tabuchi M., Takeda Y., Lomov A.A. // J. Phys. D: Appl. Phys. 2007. V. 40. N 16. P. 4896-4901
  9. Chierchia R., Bottcher T., Heinke H., Einfeldt S., Figge S., Hommel D. // J. Appl. Phys. 2003. V. 93. N 11. P. 8918--8925
  10. Barchuk M., Motylenko M., Lukin G., Patzold O., Rafaja D. // J. Appl. Cryst. 2017. V. 50. Pt 2. P. 555--560
  11. Кютт К.Н., Динаев Ю.А. // Письма в ЖТФ. 2009. Т. 35. В. 21. С. 6--15

Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.

Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.

Учредители

Издатель

© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук
Powered by webapplicationthemes.com - High quality HTML Theme