Вышедшие номера
Транспорт носителей заряда и перезарядка глубоких уровней в структурах для лавинных S-диодов на основе GaAs
Переводная версия: 10.1134/S106378501806007X
Министерство образования и науки Российской Федераци, Государственное задание, 11.2247.2017
Прудаев И.А. 1, Верхолетов М.Г. 2, Королёва А.Д.3, Толбанов О.П. 1
1Национальный исследовательский Томский государственный университет, Томск, Россия
2Московский государственный технический университет им. Н.Э. Баумана, Москва, Россия
3ПАО "Радиофизика", Москва, Россия
Email: funcelab@gmail.com, top@mail.tsu.ru
Поступила в редакцию: 15 февраля 2018 г.
Выставление онлайн: 20 мая 2018 г.

Представлены результаты исследования процессов переноса носителей заряда и перезарядки глубоких уровней в полупроводниковых структурах для лавинных S-диодов. Исследованы арсенид-галлиевые структуры n+-pi-nu-n-типа с диффузионным распределением глубокого акцептора железа. В ходе решения уравнений непрерывности и Пуассона с использованием коммерческого пакета проектирования обнаружено влияние инжекции электронов на напряжение лавинного пробоя, а также эффект расширения области пространственного заряда за счет захвата лавинных дырок на отрицательные ионы железа в pi-области. Сравнение результатов численного расчета с экспериментальными данными показывает, что S-образная вольт-амперная характеристика диффузионных лавинных S-диодов необъяснима с позиций ранее предложенного механизма захвата лавинных дырок на глубокие уровни железа.