Волноводная спектроскопия тонких пленок
Хомченко А.В.1
1Институт прикладной оптики НАН Беларуси, Могилев
Email: ipo@physics.belpak.mogilev.by
Поступила в редакцию: 19 июня 2000 г.
Выставление онлайн: 19 марта 2001 г.
Рассмотрен волноводный метод измерения спектров поглощения тонких пленок в области их прозрачности. Приведены спектры поглощения тонких пленок оксида олова и цинка в диапазоне длин волн 400-800 nm. Ошибка измерения спектра поглощения пленки толщиной ~ 0.1 mum не превышала 5% при значениях коэффициента поглощения ~ 50 cm-1. Обсуждаются возможности и ограничения метода.
- Бухштаб М.А. Измерения малых оптических потерь. Л.: Энергоатомиздат, 1988. 160 с
- Никитин П.И. // Сенсорные системы. 1998. Т. 12. N 1. С. 69--87
- Яковлев В.А., Сычугов В.А., Тищенко А.В. // Письма в ЖТФ. 1982. Т. 8. В. 11. С. 665--668
- Oliver M., Peuzin J.-C., Danel J.-S. // Appl. Phys. Lett. 1981. V. 38. N 2. P. 79--81
- Редько В.П., Романенко А.А., Сотский А.Б., Хомченко А.В. // Письма в ЖТФ. 1992. Т. 18. В. 3. С. 14--18
- Сотский А.Б., Романенко А.А., Хомченко А.В., Примак И.У. // Радиотехника и электроника. 1999. Т. 44. N 5. С. 1--9
- Mendes S.B., Li L., Burke J.J., Lee J.E., Saavedra S.S. // Appl. Opt. 1995. V. 34. N 27. P. 6180--6186
- Кисин В.В., Сысоев В.В., Ворошилов С.А. // Письма в ЖТФ. 1999. Т. 25. В. 16. С. 54--58
- Гончаренко А.М., Карпенко В.А. Основы теории оптических волноводов. М.: Наука и техника, 1983. 237 с
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук