Измерение характеристик сцинтилляторов при импульсном рентгеновском возбуждении
Родный П.А.1, Михрин С.Б.1, Мишин А.Н.1
1С.-Петербургский государственный технический университет
Поступила в редакцию: 26 февраля 2000 г.
Выставление онлайн: 20 июля 2000 г.
Разработана установка для измерения основных характеристик сцинтилляторов: постоянные спада, световыход спектра излучения. Установка состоит из трех основных частей: малогабаритный источник коротких рентгеновских импульсов, криостат и схема регистрации. Источник имеет следующие предельные параметры: длительность импульсов ~ 0.5 ns, частота следования 100 kHz, напряжение на рентгеновской трубке 30 kV, амплитуда тока 0.5 A. Схема регистрации позволяет проводить измерения в спектральном диапазоне 200-800 nm и временном интервале от 0.5 ns до 50 mus с разрешением не хуже 0.1 ns.
- Викторов Л.В., Скориков В.М., Жуков В.М., Шульгин Б.В. // Изв. АН СССР. Сер. Неорган. материалы. 1991. Т. 27. С. 1699--1718
- Родный П.А. // Аппаратура и методы рентгеновского анализа. Л., 1988. В. 39. С. 152--158
- Вавилов С.П. Импульсная рентгеновская техника. М.: Энергия, 1981. 283 с
- Герчиков Ф.Л. Управляемое импульсное рентгеновское излучение в приборостроении. М.: Энергоиздат, 1987. 114 с
- Derenzo S.E., Moses W.W., Blankerspoor S.C. et al. // IEEE Trans. on Nuclear Science. 1994. V. 41. P. 629--631
- Родный П.А., Намозов Б.Р., Рожков А.В., Рыжков А.Г. // Патент РФ N 2054739. 1996
- Гук В.Г., Лобанов А.А., Скачков Н.Н. // Электронная техника. Сер. Электровакуумные и газоразрядные приборы. 1991. В. 2 (133). С. 37--40
- Moses W.W. // Nucl. Instrum. Meth. Phys. Res. 1993. V. A336. P. 253--258
- Герчиков Ф.Л., Гудовских В.А., Данильченко Н.Т. и др. // Письма в ЖТФ. 1980. Т. 6. В. 15. С. 911--916
- Laval M., Moszynski M., Alemand R. et al. // Nucl. Instrum. Methods. 1983. V. 206. P. 169--175
Подсчитывается количество просмотров абстрактов ("html" на диаграммах) и полных версий статей ("pdf"). Просмотры с одинаковых IP-адресов засчитываются, если происходят с интервалом не менее 2-х часов.
Дата начала обработки статистических данных - 27 января 2016 г.
© 2024 Физико-технический институт им. А.Ф. Иоффе Российской академии наук